Gebraucht HITACHI S-4700 #293627796 zu verkaufen
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ID: 293627796
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS 550i IXRF System
SGX Sensrtech P/N 872-4491B
SEIKO SEIKI STP-301H Control unit
TFT LCD Monitor, 7"
(3) APC Universal power supplies
(2) EDWARDS Roughing pumps
Chiller
Spare parts included.
HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop ist ein Top-of-the-Line-Instrument für die Rastersondenmikroskopie, die elektronische und magnetische Charakterisierung im Atommaßstab und verschiedene Oberflächenanalysetechniken. Dieses vielseitige Werkzeug ermöglicht die Erfassung von Sub-Nanometer-Bildern von Materialien von nahezu jeder Oberfläche, unabhängig von ihrer Größe, Form oder Komplexität. Es kombiniert eine Hochleistungs-Bildgebungsausrüstung und eine Elektronensäule der neuen Generation, um eine unübertroffene Auflösung sowohl in der Bildgebung als auch in der Analyse zu erreichen. HITACHI S 4700 verfügt über ein fortschrittliches pixelbasiertes Bildgebungssystem. Jedes Pixel ist exakt positioniert und in der Lage, ein Bild mit einer räumlichen Auflösung von 0,2 nm im Scanmodus und 0,3 nm im Konstantpotentialmodus zu erzeugen. Dieses Gerät verwendet auch spezielle Signalverstärkungs- und Steuerungsfunktionen, um Rauschen zu reduzieren und das Signal-Rausch-Verhältnis zu maximieren. Dieses Mikroskop ist auch mit einer neuen Generation von Elektronensäulen ausgestattet, die es Forschern ermöglicht, Proben bis zu einer Größe von 1 000 nm (1 µm) im Scanmodus und 5 000 nm (5 µm) im Konstantpotential-Modus zu untersuchen. S-4700 bietet eine Auswahl an Extraktionslinsen für die Anwendung, die eine optimale Leistung für niedrige und hochbeschleunigte Elektronen ermöglichen. Dieses Instrument enthält auch leistungsstarke elektronenoptische Komponenten zur Detektion, Abtastung und Steuerung der Elektronenstrahlen zur Bildgebung und Analyse. Es ist in der Lage, verschiedene Proben unter verschiedenen Betriebsbedingungen mit Leichtigkeit zu überwachen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Energiefiltermaschine hochauflösende energiedispersive Röntgenabbildungen und Elektronenenergieverlustspektroskopie. S 4700 Rasterelektronenmikroskop zeigt seine Vielseitigkeit durch seine Untersuchungsfähigkeit mit einer Reihe von Kaltkathodendetektoren, Hochleistungs-Bildgebungs- und Elektronenbeugungssystemen und fortschrittlichen analytischen Instrumenten. Es ist für die Umsetzung in Forschungslabors, Industrie und anderen Bereichen der Wissenschaft, Technik und Industrie konzipiert. Es bietet die höchste Bildauflösung und Genauigkeit auf dem Markt.
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