Gebraucht HITACHI S-4700 #293632285 zu verkaufen
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ID: 293632285
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
Electron gun: Cold field emission type
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction method
Objective lens: Movable aperture
Correction coil: 8-Pole electromagnetic system
Scanning coil: 2-Stage
Type II Sample fine movement device
Secondary electron resolution:
1.5 nm Acceleration voltage: 15 kV, WD: 12 mm
2.1 nm Acceleration voltage: 1 kV, WD: 2.5 mm
Magnification:
LM Mode: 20-2,000x
HM Mode: 100-500,000x
5-Axis motor driving:
X: 0~100 mm
Y: 0~50 mm
Z: 2.5~30.0 mm
T: -5°~60°
R: 360°
Detector:
Secondary electron detector
Ultra-sensitive reflected electron detector
Energy dispersive X-ray detector
Scan mode:
Normal scan
Selected area scan
Line scan
Photo scan
Spot position
Average concentration distribution
Dual mug / split
Oblique
PC: Pentium 32 MHz or higher
RAM: 32 MB or more
HDD: 2.4 GB or more
Operating system: Microsoft Windows NT
Color monitor, 17"
CRT, 7"
Signal processing:
Real-time image display
Automatic image adjustment (Brightness, contrast)
Gamma control
Derivative image display (Contour enhancement)
Inverted image display
Autofocus (AFC)
Auto stigma
Memory: 2560 x 1920
Image integration
Contrast conversation
Color display
Beam blanking
Raster rotation / tilit competition
Scanning speed: TV, slow 0.5-40s/frame
Electrical field of view movement: ± 15 µm (when WD= 12 nm)
Frame capacity:
1280 x 960
640 x 480
2560 x 1920
Display size:
Standard: 640 x 480
(2) Screen displays:
512 x 480
Full 1024 x 700
Digital beam control
Pre-processing related:
YAG Type reflected electron detector
Energy dispersive X-ray analyzer
E-1030 Mild sputtering equipment
Multi-prep system
Ethernet network interface
Video amplifier unit
Photomal power supply unit
Acceleration voltage: 0.5–30 kV (0.1 kV step)
2000 vintage.
HITACHI S-4700 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den höchsten Standards in der Bildgebung entspricht. Mit dem eingebauten Signalprozessor erzeugt HITACHI S 4700 auch bei geringen Vergrößerungen hochauflösende Bilder. Die leistungsstarken und präzisen Scanmotoren von S-4700 sorgen zudem für eine schnelle und genaue Bildgebung. S 4700 ist mit einer dreistufigen Säulenstufe ausgestattet, die eine breite Palette von Vergrößerungsmöglichkeiten bietet. Es enthält auch einen zweistufigen Kondensator und Objektive, um sicherzustellen, dass die Bilder immer scharf und klar sind. Die ultradünne Fensterbaugruppe HITACHI S-4700 und das digitale Bildgebungssystem machen es möglich, den höchsten Kontrast und die höchste Auflösung für eine Vielzahl von Proben zu erreichen. HITACHI S 4700 verfügt über zwei separate Detektoren, die zum Nachweis von Sekundärelektronen verwendet werden. Im Abbildungsmodus werden die Sekundärelektronen auf den Detektor gesammelt, während im energiedispersiven Röntgen- (EDX) Modus ein paralleler Röntgenstrahl zur Anregung der Probe verwendet wird. Die gesammelten Informationen werden dann in Bilder umgewandelt. S-4700 ist in der Lage, verschiedene geometrische Formen und Detailebenen zu erfassen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Live-Vorschau-Funktion Benutzern, Anpassungen vorzunehmen und Bilder in Echtzeit zu überprüfen, die Bildgebungszeit zu reduzieren und die Gesamtgenauigkeit zu verbessern. S 4700 verfügt über zwei interne Niedervakuumpumpen, die eine niedrige Vakuumleistung ermöglichen. Diese Funktion ist vorteilhaft bei der Arbeit mit Proben, die niedrige Drücke erfordern. Der Niederdruckbetrieb erhöht auch die Sicherheit der Anwender, da dadurch die Möglichkeit von Explosionen vermieden wird. HITACHI S-4700 ist ein hochwertiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, extrem detaillierte Bilder zu erstellen. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen ist HITACHI S 4700 eine perfekte Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Materialanalyse bis zum Halbleiter
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