Gebraucht HITACHI S-4700 #293637311 zu verkaufen
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ID: 293637311
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDAX X-Ray
Centaurus detector
GV10x-DS Asher
XFlash detector.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen für die heute anspruchsvollsten Forschungslabore bereitstellt. HITACHI S 4700 bietet beispiellose Auflösung und Vergrößerungsleistung, so dass Forscher Objekte im Nanometermaßstab betrachten können. Mit einer Kombination aus ausgeklügelter Hard- und Software gibt S-4700 Forschern die Möglichkeit, Proben auf zellulärer und subzellulärer Ebene abzubilden und zu analysieren. S 4700 ist als eigenständiges SEM mit automatisierter Scanausrüstung und integrierter Computerverarbeitungseinheit konzipiert. Das Instrument bietet eine breite Palette von Fähigkeiten, einschließlich Sekundär- und Rückstreuelektronenbildgebung, Photomultiplier-Röhre (PMT) -Bildgebung, strahlinduzierte organische Fluoreszenz (Bio-F) und Auger-Elektronenspektroskopie (AES) -Bildgebung. Das System ist mit einer Reihe von Funktionen ausgestattet, darunter eine Hochgeschwindigkeits-Auto-Video-Einheit, eine Auflösung von bis zu 5.000x und eine Reihe von EDS-Systemen. HITACHI S-4700 optische Maschine verfügt über eine Feldemissionssäule, die zusätzliche Schärfentiefe und höhere Auflösung und Kontrast bieten kann. Das Werkzeug enthält auch eine Detektoreinheit, die Multiplex-Fluoreszenzbildgebung und EDS durchführen kann, und einen Faraday-Käfig für hochpräzise Ionen- und Elektronenkristallographie. HITACHI S 4700 bietet eine Reihe von Anwendungen, darunter 3D-SEM-Bildgebung, Fehleranalyse und die Untersuchung von Makromolekülen. Das Instrument ist auch ein ausgezeichnetes Werkzeug für die Materialforschung. Es bietet Forschern die Möglichkeit, die Oberflächenstruktur und Zusammensetzung von Materialien sowie ihre inneren Merkmale zu untersuchen. Darüber hinaus ist S-4700 eine ideale Wahl für die Abbildung biologischer Proben, so dass Forscher die Struktur und die innere Zusammensetzung von Zellen untersuchen können. S 4700 Rasterelektronenmikroskop bietet erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen für die heute komplexesten Forschungsprojekte. Seine beeindruckenden Auflösungs-, Feldemissions- und Detektionsmöglichkeiten bieten Forschern die Werkzeuge, die sie benötigen, um Proben in exquisiten Details zu untersuchen. Darüber hinaus ermöglicht die automatisierte Scan-Anlage es Forschern, Proben schnell und präzise auf zellulärer und subzellulärer Ebene abzubilden und zu analysieren.
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