Gebraucht HITACHI S-4700 #293651678 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein einzigartiges Gerät mit leistungsstarken Fähigkeiten zur Bildgebung, Analyse und Inspektion im Minutenmaßstab. Es verwendet Elektronenstrahlen, um eine außerordentlich hochauflösende Oberflächenbildgebung zu erreichen. Mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 30 kV verwendet HITACHI S 4700 mehrere Abbildungsmodi, die den Einsatz für Halbleiterinspektion und -klassifizierung, Fehleranalyse, Partikelanalyse und Oberflächenanalyse ermöglichen. Die Probenkammer ist gut für einfache Bedienung ausgelegt. Mit einem Basisdruck von 2,0 x 10-4 Pa lassen sich Messungen und Sammlerstücke mit geringem Aufwand schnell erreichen. Die Kammer verfügt auch über bewegliche Filtersoftware, die die meisten der gestreuten Elektronen aus Vibrationsdetektoren erzeugt eliminieren. Außerdem verfügt die Kammer über einen Ion Beam Path Configurator (IBPC), mit dem Benutzer die Strahltrajektorien einfach anpassen können, um die Bilder mit Präzision zu optimieren. S-4700 ist nicht nur in der Lage, topographische Informationen zu erhalten, sondern auch bei der Elementaranalyse. Mit Hilfe eines energiedispersiven Spektrometers (EDS) scannt das SEM die Oberfläche einer Probe und detektiert die emittierten detektierbaren Röntgenstrahlen mit einem Festkörperdetektor. Diese Methode kann die Probenchemie in einer Vielzahl von Materialien mit sehr präziser Auflösung analysieren. Obwohl S 4700 mit einer breiten Palette von Zubehörteilen geliefert wird, ist die umfassendste Befestigung eine geladene Partikelsäule (CPC), mit der die Proben in 3-Dimensionen gescannt werden können und die genaueste Analyse bestimmter Proben ermöglicht wird. HITACHI S-4700 ist ein leistungsstarkes Werkzeug für Materialwissenschaftler und Ingenieure, die hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen in kleinem Maßstab benötigen. Mit den robusten Eigenschaften von HITACHI S 4700 ist es eine gute Wahl für detaillierte Bilder sowie elementare Analysen. Dieses Gerät eignet sich hervorragend für die Durchführung dynamischer Analysen, Fehleranalysen, Fehlererkennung und eine Vielzahl anderer Anpassungsanwendungen.