Gebraucht HITACHI S-4700 #293758113 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben bei verschiedenen Vergrößerungen konzipiert ist. Es verfügt über ein hochauflösendes Bildgebungssystem und hat eine maximale Auflösung von 0,8 nm im Sekundärelektronendetektor, der hochauflösende Bilder liefert. HITACHI S 4700 ist mit einem High-Tilt-In-Linsen-Detektor ausgestattet, der eine breite Palette von Elektronenoptiken mit einem großen Sichtfeld bietet. Der In-Linsen-Detektor eignet sich ideal für die Bildgebung von etwa 1-2nm Auflösung und ist in der Lage, hohe Kontraste und scharfe Bilder zu erzeugen. Zusätzlich ist das Objektiv mit einer leistungsstärkeren und kontrollierten Beschleunigungsspannung ausgestattet, die eine qualitativ hochwertige Bildgebung gewährleistet. S-4700 verfügt über eine Umweltkammer mit präziser Temperaturregelung über einen weiten Bereich. Dadurch können Proben in ihrer nativen Umgebung bei präzisen Temperaturen analysiert werden. Die eingebaute Peltier-Kühlstufe hält Proben in einem flüssigen stickstoffartigen Zustand, der Verdunstung verhindert und eine präzise Probenkontrolle gewährleistet. S 4700 enthält auch mehrere verschiedene Signaldetektoren, darunter eine Photoelektronen-Rückstreuung, ein sekundäres Elektronensignal und ein Differenzsignal zur Analyse verschiedener Arten von Proben. Der Detektor verfügt auch über einen abnehmbaren Energiefilter, der sowohl quantitative als auch qualitative Ergebnisse bei der Analyse von Proben verbessern soll. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-4700 über die Möglichkeiten, 3D-Bilder zu erfassen, ein Merkmal, das für die Analyse komplexer oder gekrümmter Oberflächenstrukturen wesentlich ist. Die integrierte Stufensteuerung ermöglicht das Kippen, Verschieben und Drehen von Proben, um eine präzise Steuerung des Blickwinkels zu ermöglichen. Die Neigungsfähigkeit ermöglicht die Abbildung von Proben von bis zu 70 ° unter der Oberfläche. Dieses SEM verfügt auch über fortschrittliche Software, die leistungsstarke Bildgebungs- und Analyseoptionen bietet. Software-Funktionen wie automatisierte Partikelerkennung, Dual-Imaging und Bildreparatur-Tools stehen in Kombination mit den Hochvergrößerungsfunktionen zur Verfügung. Insgesamt ist das HITACHI S 4700 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben. Seine einzigartigen Eigenschaften wie das hochauflösende Bildgebungssystem, die leistungsstarke Beschleunigungsspannung und die Umweltkammer machen es zu einer idealen Wahl für die genaue Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben.