Gebraucht HITACHI S-4700 #293762418 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Abbildung kleiner Proben bis zu einer Größe von 200 nm ausgelegt ist. Es ist mit einer Vielzahl von erweiterten Funktionen ausgestattet, einschließlich einer hochauflösenden Elektronensäule, einem Sekundärelektronendetektor, Elektronenrückstreuung und einem Bereich von energiedispersiven Röntgen- und Röntgenbeugungsdetektoren. HITACHI S 4700 verwendet ein zweistrahliges Säulendesign, das eine Kombination aus Kaltfeldemission und thermionischen Emissionsquellen verwendet. Dieses Design ermöglicht einen höheren Strahlstrom und eine höhere Auflösung mit geringerer Strahlstromdichte und Elektronendosen als herkömmliche SEM-Systeme. Es bietet auch einen ausgezeichneten Bildkontrast, der eine detailliertere Analyse der Probenoberflächenmorphologie ermöglicht. S-4700 wird von einer Elektronensäule mit einer Beschleunigungsspannung von 30 kV versorgt und kann bis zu 60 kV übertaktet werden. Sein Sekundärelektronendetektor bietet auch niederdosierte bildgebende Funktionen und eine Reihe von Sammelwinkeln, die eine Abbildung komplexer Probenformen ermöglichen. Die Elektronenrückstreufähigkeiten der S 4700 werden über einen Mehrkanaldetektor bereitgestellt. Dieses System ermöglicht es Forschern, eine Reihe von orientierten Probengeometrien, einschließlich Neigung und azimutaler Orientierung, schnell und genau zu messen. HITACHI S-4700 bietet auch eine Reihe von energiedispersiven Röntgenstrahl- (EDS) und Röntgenbeugungsdetektoren (XRD) an. Diese Detektoren geben Einblick in eine Reihe von Probeneigenschaften, von der elementaren Zusammensetzung bis zur Kristallstruktur. HITACHI S 4700 ist hochautomatisiert und verfügt über eine Reihe von Funktionen, die Arbeitslasten reduzieren und den Durchsatz verbessern sollen. Es ist auch mit einer intuitiven Windows-basierten grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die einen einfachen Zugriff auf Probenbilder und Sensordaten ermöglicht. Neben seinen zahlreichen technischen Eigenschaften hat sich S-4700 als äußerst zuverlässig, langlebig und sicher erwiesen. Es ist auch bekannt für seine außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit und Wartung, so dass es gut geeignet für akademische und industrielle Anwendungen. Insgesamt ist S 4700 eine ausgezeichnete Auswahl an Rasterelektronenmikroskop für die hochauflösende Abbildung von Proben bis 200 nm Größe. Seine Kombination aus leistungsstarken Eigenschaften, hoher Genauigkeit und Zuverlässigkeit machen es zu einer Top-Wahl für Forschungslabore auf der ganzen Welt.