Gebraucht HITACHI S-4700 #293805119 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine großflächige Mikroskopie, die von Forschungslabors verwendet wird, um eine breite Palette von Proben mit einer Auflösung von mehr als 0,2 Nanometern abzubilden. Dieses System kombiniert eine Hochspannungselektronenquelle, eine große Abbildungskammer, eine hochauflösende Digitalkamera und innovative Bildgebungssoftware, damit Forscher auch kleinste Details ihrer Proben visualisieren können. HITACHI S 4700 SEM verwendet eine thermionische Emissionskaltfeldelektronenquelle, um einen hochenergetischen Elektronenstrahl mit einem breiten Bereich von Landewinkeln bereitzustellen. So können sich Forscher auf Merkmale konzentrieren, die tief in der Probe liegen. Die Abbildungskammer sorgt für eine Hochvakuumumgebung der Probe und isoliert sie von Umgebungsluftpartikeln. Es ist auch mit einem Faraday-Becher ausgestattet, um die Elektronenstromdichte und eine breite Palette von automatisierten Ausrichtungsfunktionen zu messen, um die Bildstabilität zu gewährleisten. S-4700 SEM ist in der Lage, Bilder bei hohen Vergrößerungsstufen mit Vergrößerungsverhältnissen bis zu 1000x zu erzeugen. Die Vergrößerung wird durch die Spannung der Elektronenkanone und einstellbare Linsenöffnungen gesteuert. Bei höheren Vergrößerungen kann es überlagerte Bilder erzeugen, um verschiedene Schichten der Probe zu unterscheiden. Ferner ist die Probenkammer mit einem Verschluss ausgestattet, um den Elektronenstrahl aktiv zu blockieren und Probenschäden zu reduzieren. Zum Erfassen von Bildern verwendet S 4700 eine 1024x1024-Pixel-Digitalkamera, die Bilder sowohl im Hellfeld- als auch im Dunkelfeldmodus aufnehmen kann. Diese Bilder werden dann auf den Computer des Benutzers übertragen, wo sie mit verschiedenen anspruchsvollen Bildanalyse-Softwarepaketen analysiert werden können. Darüber hinaus können HITACHI S-4700 SEM auch verwendet werden, um die chemische Zusammensetzung von Proben mit einer Vielzahl von Nachweistechniken wie EDX-Elementaranalyse, MINT-Kartierung und Röntgenmikroanalyse zu untersuchen. Darüber hinaus bietet die Einheit Optionen zur Messung von Proben in einer Vielzahl von Kontrastmodi, einschließlich regulärer und kontrastreicher Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen (BSE). Abschließend ist HITACHI S 4700 Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes, vielseitiges und zuverlässiges Bildgebungswerkzeug, das den Anforderungen von Forschungslabors gerecht wird. Durch die Kombination einer Hochenergie-Elektronenquelle, einer Hochvakuum-Abbildungskammer und einer vielseitigen Detektionsmaschine bietet dieses Tool Forschern die Möglichkeit, Proben mit unübertroffener Detailtreue und Genauigkeit zu visualisieren und zu analysieren.