Gebraucht HITACHI S-4700 #293808759 zu verkaufen

HITACHI S-4700
ID: 293808759
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX X-Ray Centaurus detector XFlash detector IBSS GROUP CV10X-DS Asher Manuals PC Accessories.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) für eine Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Lehre. Es verfügt über modernste Bildgebungs- und Analysefunktionen und bietet gleichzeitig eine Plattform für die Entwicklung neuer Anwendungen. Die HITACHI S 4700 weist einen Sekundärelektronendetektor mit einem vertikalen Spalt zwischen dem Detektor und der Probenkammer auf, so dass der Benutzer den Abstand zwischen beiden steuern kann. Dies verbessert die Bildgebungs- und Analysegenauigkeit sowie den Schutz der Probe vor externen Faktoren. Mit seinem eingebauten Energiefilter kann das Instrument die Elemente einer Probe genau bestimmen. Es hat auch einen rückgestreuten Elektronendetektor mit einem Signal-Rausch-Verhältnis von 30.000: 1, der eine schnelle und genaue Aufnahme von Bildern ermöglicht. S-4700 hat eine hochempfindliche kryogene Stufe und einen hochdeckenden Kaltkathodendetektor. Diese Eigenschaften ermöglichen senkrechte Röntgenmessungen, eine genaue Elementaranalyse und ein Sichtfeld von bis zu 1,5 mm. Das Mikroskop kann auch bei einem Bereich von Betriebstemperaturen bis -196 ° C arbeiten und ermöglicht die gleichzeitige Abbildung großer Proben. Dies ermöglicht die Aufnahme schneller, räumlich aufgelöster Bilder über einen weiten Temperaturbereich. Um die Genauigkeit und Auflösung der Messungen weiter zu erhöhen, verfügt S 4700 über ein integriertes Computersystem, das Bilder speichern und verarbeiten kann. Mit einer Vielzahl von Filtern kann das System dann die Bilder verarbeiten, um ihre Genauigkeit weiter zu verbessern. Das Instrument verfügt außerdem über eine Software-Suite mit Werkzeugen wie Bildnähten und 3D-Rekonstruktionen. Mit Bildnähten können Forscher mehrere Bilder zu einem Panoramablick zusammenführen, während 3D-Rekonstruktionen die Erstellung dreidimensionaler Modelle der Probe ermöglichen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-4700 über eine breite Palette an Zubehör, wie Probenhalter und -stufen, Probenzellen, Elektronenquellen und elektrische Rückkopplungssteuerungssysteme. Mit diesen Funktionen können Benutzer ihre Experimente für die bestmöglichen Ergebnisse optimieren. HITACHI S 4700 ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das beispiellose Leistung, Genauigkeit und Flexibilität bietet. Es ist das perfekte Werkzeug für anspruchsvolle Anwender und bietet unübertroffene Bildgebungsfunktionen mit maximalem Komfort.
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