Gebraucht HITACHI S-4700 #293811858 zu verkaufen
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ID: 293811858
Wafergröße: 6"
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
EDAX X-Ray
Centaurus detector
GV10x-DS Asher
XFlash detector.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in den Bereichen Materialwissenschaft, Biologie und Technik eingesetzt wird. HITACHI S 4700 verfügt über eine leistungsstarke elektronenoptische Ausrüstung, die detaillierte Bilder von Proben bei hohen Vergrößerungen erhalten kann. Es hat eine Beschleunigungsspannung von 0,1 bis 30 kV, eine Vergrößerung bis zu einer Million Mal und eine Auflösung von 1 Nanometer. Es ist mit einem Autofokussiersystem und einer CCD-Kamera ausgestattet, die hochauflösende Bilder in verschiedenen Modi erzeugt, einschließlich Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronenbilder. Hinsichtlich der Probenstufe ist S-4700 mit einer X-Y-Z-Neigungs-Probenstufe zur kontinuierlichen Beobachtung und Bildgebung ausgelegt. Es verfügt über eine mit Luftschleuse ausgestattete Probenladeeinheit, während sein Live-Betrachtungsmonitor die Bilder der Probe in Echtzeit verfolgen kann. Die Probenstufe ist in 3-Achsen mit Präzisionsbewegungen bis 0,1 Nanometer bewegbar. Die Temperatur der Stufe kann geregelt und auf Temperaturen bis -150 ° C gehalten werden, so dass auch Proben wie biologische Proben ohne Gefahr einer thermischen Schädigung beobachtet werden können. In Bezug auf seine Elektronenquelle ist S 4700 mit einer Kaltfeld-Emissionskanone mit einem Wolframfaden ausgestattet. Damit kann HITACHI S-4700 einen Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit erzeugen und feine Strukturen einer Probe abbilden, ohne sie zu beschädigen. Die Zellmechanismen sind ebenfalls in die Pistole eingebaut, was eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Zur Steuerung des Betriebs der HITACHI S 4700 wird eine Software namens SU-4700 bereitgestellt. Diese Software ermöglicht es dem Anwender, eine Vielzahl von Bedingungen einzustellen, einschließlich Parameter für das Elektronenmikroskop, die Probenstufe und andere Elemente wie Kameras und Detektoren, die auf S-4700 verwendet werden. Folglich ist S 4700 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer optischen Hochleistungselektronenmaschine. Es umfasst eine Vielzahl von präzisen Kontrollmechanismen und Temperaturregelmodulen, die es ermöglichen, eine breite Palette von Proben zu untersuchen. Es ist weit verbreitet in der Technik, Materialwissenschaft und Biologie.
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