Gebraucht HITACHI S-4700 #293813489 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein bodenstehendes Instrument für hochauflösende Bildgebung. Es verfügt über eine neue Generation STEM In-Objektiv-Design mit Pole Stück und Wehnelt Kapillarlinsen, eine hochauflösende Volt und Strom-Display, eine Auto-Fokus-Ausrüstung, die Fokussierbarkeit über einen 180mm Arbeitsabstandsbereich ermöglicht, und eine erweiterte bildgebende Workflow mit einer hohen Präzision Stufe. Der Detektor des HITACHI S 4700 besteht aus einem rückgestreuten Bildverarbeitungssystem, das eine Auflösung von 30 nm und einen optischen Zoom von fünf Megapixeln aufweist und eine hochwertige Farbkamera zur Aufzeichnung der Bildaufgaben des Benutzers umfasst. Die ABAT-Einheit (Automated Beam Acquisition and Tracking) ermöglicht es dem Benutzer, den Strahl automatisch auf dem Zielmaterial zu fokussieren und zu verfolgen. In Kombination mit der BAC-Maschine (Beam Auto Centering) und der schnellen Datenübertragung bietet sie hochauflösende Bilder mit Geschwindigkeit und Genauigkeit. Die Hauptlinse von S-4700 besteht aus einer 12,5-Zoll-inneren und äußeren Linsenkombination. Die innere Linse oder Wehnelt ist eine hochauflösende Polstücklinse, die die Detektionsempfindlichkeit verbessert, die Punktspreizung bestimmt und eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Die äußere Linse erzeugt ein hochgleichmäßiges elektrostatisches Feld, um eine stabile Beleuchtung bei niedrigen Spannungen zu gewährleisten. Das Gesamtergebnis ist ein Linsenwerkzeug, das präzise, schnell ist und eine hochauflösende Abbildung von feinen Details bietet. S 4700 ist auch mit einem Multi-Mode-Scan-Asset ausgestattet, das dem Benutzer präzise und schnelle Kontrolle über die Größe des Strahlfensters, die Scangeschwindigkeit und die Bildhelligkeit gibt. Dies ist besonders nützlich, wenn sehr kleine Ziele wie Nanofasern und andere Arten von Nanopartikeln abgebildet werden. Mit dem Multi-Mode-Scanmodell kann der Benutzer die Strahlbreite und -intensität anpassen, um beispiellose Details auf Mikro- und Nanoniveau zu erreichen. Schließlich ist HITACHI S-4700 in der High-End-Forschung weit verbreitet und hat die Fähigkeit, erstaunliche Bilder der Submikron-Welt zu produzieren. Schnittstellen wie das Digital Interface Equipment (DIS) und erweiterte Punktauflösungssysteme ermöglichen es Benutzern, Daten schnell und genau zu sammeln. In Verbindung mit der automatisierten Strahlverfolgung und der automatischen Zentrierung bietet HITACHI S 4700 eine beispiellose Bildverarbeitungsleistung für eine Vielzahl von Anwendungen.