Gebraucht HITACHI S-4700 #293815654 zu verkaufen

HITACHI S-4700
ID: 293815654
Scanning Electron Microscope (SEM) Energy Dispersive X-ray (EDX) system.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine hervorragende Bildauflösung und 3D-Funktionen bekannt ist. Es ist in zwei Konfigurationen verfügbar; HITACHI S 4700 Typ II für allgemeine SEM-Bildgebung und S-4700 FESEM für die Bildgebung bei extrem niedrigen Spannungen. Die Bildauflösung gehört mit einer Elektronenwellenlänge von 0,018 nm und einer Primärenergieauflösung von 0,9 nm zu den besten seiner Klasse. S 4700 hat auch eine optionale tiefe Graben-Bildgebungsfähigkeit, die Gräben mit einer Tiefe von bis zu 100 nm abbilden kann. HITACHI S-4700 wird über eine einfache, intuitive Computeroberfläche bedient. Das System unterstützt mehrere Betriebsmodi, einschließlich Standard-Sekundärelektronen, Ultraniederspannungs-Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen, EDX- und BSE-Detektoren. HITACHI S 4700 wurde entwickelt, um die Probenvorbereitung zu erleichtern und eine schnelle, hochauflösende Bildgebung zu ermöglichen. Es verfügt über eine Hochleistungs-Spannungs-/Neigungsmusterstufe und kann Proben mit einem Durchmesser von bis zu 200mm aufnehmen. Darüber hinaus verfügt das System über eine Hochvakuum-Aufbereitungskammer und einen variablen Druckabtastfilter. S-4700 liefert Datenerfassungsgeschwindigkeiten von bis zu 70 Bildern pro Sekunde, sodass Benutzer dreidimensionale Bilder mit außergewöhnlicher Klarheit und Detailtreue erfassen können. Die Bilder haben eine maximale Auflösung von bis zu 5nm, so dass Benutzer die feinen Details ihrer Proben sehen können. S 4700 ist mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopiemodul (EDX) für die Elementaranalyse ausgestattet. Das Modul ist in der Lage, eine Vielzahl von hochpräzisen, hochgenauen Analysen durchzuführen, einschließlich Spurenwertanalysen, Multielementanalysen und quantitativer Analysen. HITACHI S-4700 ist ein Hochleistungs-Bildgebungssystem, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Es ist ideal für Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Fehleranalyse und Halbleiterschaltungsanalyse.
Es liegen noch keine Bewertungen vor