Gebraucht HITACHI S-4700 #293829170 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysewerkzeug für die Erforschung nanostrukturierter Materialien. Es kombiniert überlegene Bildgebungsfunktionen mit einer einzigartigen, ultrahochauflösenden Filterausrüstung, um Forschern das höchste verfügbare Niveau an analytischen Daten zu bieten. HITACHI S 4700 ist mit einer hochmodernen Elektronenkanone ausgestattet, die einen fokussierten Elektronenstrahl genau auf eine Probe richtet. Diese Elektronen interagieren mit den Atomen in der Probe und erzeugen ein Signal, das anschließend von einem hochempfindlichen Detektor gesammelt wird. Die Elektronen kehren dann in die Probenstufe zurück, wo sie fokussiert und zum Detektor umgeleitet werden. Die elektronische Pistole von S-4700 ist die Schlüsselkomponente seiner überlegenen Auflösung. Sein Doppelfiltersystem kombiniert zwei Filter - einen äußeren Feldfilter, der jedes Signal, das das Bild stören kann, herausfiltert, und einen inneren Feldfilter, der das Signal weiter verfeinert. Die Kombination der beiden Filter bietet dem Anwender das höchstmögliche Signal-Rausch-Verhältnis und sorgt für bessere Bilder und Auflösung. S 4700 kann mit einer Vielzahl von Analyse- und Erkennungszubehör ausgestattet werden. Dazu gehört eine Vier-Elemente-Dispersionskorrigierte Optikeinheit für erhöhte Genauigkeit in kontrastreichen Messbereichen sowie eine Kipp-/Stufenmaschine für 3D-Bildgebung. HITACHI S-4700 bietet auch eine Vielzahl von Bilderfassungs- und Analysesoftware. Neben den Standard-Bildsammlungen ist es kompatibel mit einer Reihe von Visualisierungs- und Analysesoftware für eine fortschrittliche mikrostrukturelle Charakterisierung. Die Software des SEM kann auch verwendet werden, um spezielle bildgebende Programme und computergestützte Tomographieverfahren zur Durchführung von 3D-bildgebenden und materialwissenschaftlichen Anwendungen auszuführen. HITACHI S 4700 ist ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Geologie, Medizin und anderen Bereichen. Mit seinen überlegenen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten ist S-4700 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug für die Erforschung nanostrukturierter Materialien.