Gebraucht HITACHI S-4700 #9058859 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9058859
Weinlese: 1998
Field emission scanning electron microscope (FE SEM)
Type I
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (in 100V steps)
Lens: 3-stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Moveable aperture
(4) Openings selectable / Align-able outside column
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-stage electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse o to 25 mm (Continuous)
Y Traverse o to 25 mm (Continuous)
Z Traverse 2.5 to 27.5 mm (Continuous)
Tilt -50 to +450
Rotation: 3600 (Continuous)
Specimen size (Airlock type specimen exchange)
Maximum: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: Flicker- free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 17
Color: 1024 x 768 pixels
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm)
Scanning modes: Normal
Reduced area
Photo
Split/Dual magnification
Line
Position setting
Spot
AAF (Analysis Area Finder)
SAA (Selected Area Analysis)
Scanning speeds: Fast
Slow: 0.5 to 40 see for frame viewing
For photo mode: 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333
Fast: NTSC or PAL signal Value of (50 HZ)/(60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Film number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date / Time and working distance
Data entry:
Alphanumeric characters
Numbers and marks can be written on image from keyboard
Electrical image shift: +/- 15um (WD = 12mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber 7 x 10'4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1 2 x 10'7 Pa
IP-2 2 x 10'6 Pa
IP-3 7 x 10'5 Pa
Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump
Turbo molecular pump (option)
(2) Oil rotary pumps
Oil-less type compressor
Protection devices:
Warning devices power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Others:
Acoustic noise Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500VAC/1min
No EDX
1998 vintage.
HITACHI S-4700 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Reihe von Hochleistungsanwendungen. Das Mikroskop kombiniert eine hochauflösende und vergrößerte Bildgebung mit einer Vielzahl von Probenbeobachtungsmodi. HITACHI S 4700 verfügt über ein überarbeitetes Steuerungssystem namens SmartMeister, das das Betriebs- und Datenerfassungserlebnis optimiert. Die benutzerfreundliche Oberfläche des SmartMeisters soll den komplexen Datenanalyseprozess leichter verständlich machen und ermöglicht dem Anwender schnelle Anpassungen der bildgebenden Bedingungen. Das Instrument ist mit einer variablen Vakuumkammer ausgestattet, die eine präzise Beobachtung von Proben unter Beibehaltung einer hohen Bildauflösung gewährleistet. Die variable Vakuumkammer hilft auch, Verschmutzungen deutlich zu reduzieren, indem der Eintritt von Luft in die Kammer verhindert wird. S-4700 ermöglicht hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung im Nanometermaßstab und einer Vergrößerung von bis zu 300.000x. Das Instrument umfasst auch eine breite Palette von Steuerungs- und Analysefunktionen, einschließlich fortschrittlicher Analysesoftware, die an verschiedene Anforderungen angepasst werden kann. Das Mikroskop umfasst Beobachtungsmodi wie Sekundärelektronenbildgebung (SEI), Rückstreuelektronenbildgebung (BEI), Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und Elektronenrückstreuung (EBSD). Diese Modi ermöglichen eine detaillierte Analyse eines breiten Spektrums von Materialeigenschaften, einschließlich der Zusammensetzungsdemographie, Topographie und der Auswertung lokaler elektrischer Felder. S 4700 ist in der Lage, 3D-Bilder von Objekten zu produzieren und ist mit automatisierten Betriebsfunktionen ausgestattet, die einen zeitsparenden und konsistenten Betrieb ermöglichen. Das Instrument umfasst außerdem eine große Probenphase, einen automatisierten Musterwechselmechanismus, ein vollautomatisiertes Betrachtungssystem und Unterstützung bei der Implementierung automatisierter Workflow-Prozesse. Insgesamt ist HITACHI S-4700 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für eine Reihe von Hochleistungsanwendungen entwickelt wurde. Dieses Instrument umfasst eine Vielzahl von Steuerungs- und Analysefunktionen, die eine detaillierte Analyse der Materialeigenschaften und Automatisierungsfunktionen für einen effizienten Betrieb ermöglichen.
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