Gebraucht HITACHI S-4700 #9131863 zu verkaufen
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ID: 9131863
Weinlese: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM)
PC Type: Windows NT
20x - 500,000x
Resolution:
1.5 nm Acceleration voltage: 15 kV, WD: 12 mm
2.1 nm Acceleration voltage: 1 kV, WD: 2.5 mm
Magnification:
LM Mode: 20-x2k
HM Mode: 100-x500k
Electron gun: Cold field emission type
Acceleration voltage: 0.5 – 30 kV (0.1 kV step)
Operation / Manual control / 5 Axis motor driving
X: 0~25 mm
Y: 0~25 mm
Z: 2.5~27.5 mm
T: -5°~45°
R: 360°
Max specimen size: 100 mm Φ, 150 mm
Detector:
Everhart thornley secondary electron detector
YAG Type back scattered electron detector
Transmitted electron detector
PC: Pentium, 166 MHz
RAM: 32 MB
HDD: 1.2 GB
Microsoft Windows 95
Monitor:
LCD monitor, 17"
Photo CRT, 7"
Signal processing:
Dynamic stigma monitor
Auto focus (AFC)
Auto stigma (AST)
Auto start function
Photo memory: 2560 x 1920
Contrast adjust
Beam blanking
Raster rotation
Tilt compensation
CD Measurement
Scan speed: TV 0.5 – 40 s
Frame:
Operation 40~320s
±15μm WD = 12 mm
Frame memory:
640 x 480
1280 x 960
2560 x 1920
Image display:
Standard: 640 x 480
(2) Dual image: 512 x 480
Full: 1024 x 700
Signal output port:
SE Signal output
X-Ray control connection port AUX
ETC DBC Digital beam control
RS 232C Interface
Communication: Ethernet 10base-T
Image output unit:
Photo CRT
Polaroid film holder: 4" x 5"
Roll film holder: 4" x 5"
ETC External unit
Vacuum system:
Full auto pneumatic type
Electron column: ~10-7 pa
Main chamber: ~10-4 pa
Ion pump:
60 l/sec X1
20 l/sec X2
Diffusion pump: 570 l/sec x1 CH
Rotary pump: 140 l/min x2 CH
Turbo pump:
Penning gauge X1
Pirani gauge X2
Chiller:
Water flow rate: 1.5~2.0 1/min
Water pressure: 50~100k Pa
Water temperature: 10°C~20°C
Clamp: RC 3/8"
2004 vintage.
HITACHI S-4700 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder mit Empfindlichkeit, Geschwindigkeit und Genauigkeit bereitzustellen. HITACHI S 4700 ist mit einer Reihe verschiedener Abbildungsmodi ausgestattet, so dass sowohl hochauflösende topografische Bilder als auch analytische Bildscanningfunktionen erzeugt werden können. Das Mikroskop verfügt über eine anpassbare hochauflösende digitale Bildgebungsoption, die Hochgeschwindigkeitshelligkeitsregelungs- und Vergrößerungseinrichtungen für Oberflächenanalyse und Schnitt ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht eine automatisierte Fokussierungssteuerung eine automatisierte Schärfentiefensteuerung, um erstaunliche topografische Bilder zu erzeugen. S-4700 verfügt über eine große Stufe von 200mm x 170mm, so dass Proben bis zu 200mm x 170 mm mit Leichtigkeit abgebildet werden können. S 4700 verfügt auch über eine breite Palette von Probenhaltern, wie Proben mit verschiedenen Formen zu begleiten. Eine In-Linsen- oder Off-Axis-Detektionseinrichtung ermöglicht dem Benutzer die gleichzeitige Steuerung von Elektronenstrom, Stufenposition und Feinpositionierung der Probe. HITACHI S-4700 verfügt auch über ein Elektronenstrahl-Abtastsystem, das entworfen ist, um hochauflösende Bilder schnell zu produzieren. Diese Einheit basiert auf einer 3-Achsen-Maschine mit Hochgeschwindigkeitsmotoren. Es wurde entwickelt, um punktgenaue Genauigkeit und hervorragende Bildqualität zu bieten. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine Vielzahl benutzerfreundlicher Analyse- und Messsoftware-Pakete wie Image Navigator, Bildverarbeitung und -analyse sowie Navigator-Bildanalysesoftware, die die einfache Nachbearbeitung von Bildern ermöglichen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4700 über eine Vakuumstammkammer, die sehr zuverlässig ist und eine minimale Wartung erfordert. Es ist mit einem turbomolekularen Pumpwerkzeug und einer variablen Gaseinspritzung ausgestattet, um Vibrationen und akustische Geräusche zu minimieren und eine längere und genauere Bildgebung zu ermöglichen. S-4700 ist ein unglaublich leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop und bietet Forschern, Ingenieuren und Wissenschaftlern ein umfassendes Paket zur Erforschung und Analyse von Proben. Mit seiner breiten Palette von Funktionen kann S 4700 die Proben schnell und effektiv genau beurteilen.
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