Gebraucht HITACHI S-4700 #9151037 zu verkaufen

HITACHI S-4700
ID: 9151037
Scanning Electron Microscope (SEM) With EDX.
HITACHI S-4700 ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung in einer Vielzahl von Situationen bereitzustellen. Dieses Gerät ist ideal für nanoskalige Messungen und Analysen von Proben mit sehr kleinen Merkmalsgrößen. Die Hochleistungsausrüstung ermöglicht ultrahochauflösende Bilder und quantitative Elementaranalysen mit geringer Probenvorbereitung sowie einfache Bedienung und Wartung. Das fortschrittliche Mikroskopdesign von HITACHI S 4700 ermöglicht die gleichzeitige Beobachtung statischer und dynamischer Prozesse mit bis zu drei verschiedenen Elektronendetektoren wie ED-X-, CCD- und BSE-Detektoren. Diese multimodale Bildgebungsfähigkeit macht S-4700 zu einem wertvollen Werkzeug für anspruchsvolle Forschung in Materialwissenschaft, Biologie und anderen Bereichen. Die FE-SEM-Technologie wird von einer direkten Ausrichtpistole mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer angetrieben, die für eine optimale Beschleunigung und Strahlauflösung einstellbar ist. Dies bietet überlegene Bildklarheit und Stabilität, mit einem breiten Spektrum von einstellbaren Abbildungsbedingungen. S 4700 verfügt außerdem über einen einzigartigen In-Linsen-Detektor zur Messung von Elektronenrückstreuung und Sekundärelektronen bei nicht optimalen Beschleunigungsspannungen. In Bezug auf die Probenvorbereitung für HITACHI- S-4700 kann das System Proben ohne spezielle Beschichtung aufnehmen und ohne flüssigen Stickstoff arbeiten. Dies macht es ideal für eine Vielzahl von Proben, die eine minimale Probenvorbereitung erfordern. HITACHI S 4700 ist eine All-in-One-SEM-Einheit mit kompakter Größe und geringem Gewicht. Dies ermöglicht eine einfache Installation und Portabilität in verschiedenen Laborumgebungen und bietet gleichzeitig erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen. Zusammenfassend ist S-4700 FE-SEM-Maschine ein ideales Werkzeug zur bildgebenden und elementaren Analyse von nanoskaligen Proben. Es ist einfach zu bedienen und erfordert eine minimale Probenvorbereitung. Es bietet eine hervorragende Bildqualität, eine breite Palette von einstellbaren Bildbedingungen und die Fähigkeit, dynamische Prozesse zu beobachten. Es ist leicht, leicht tragbar und hat eine langlebige direkte Ausrichtpistole.
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