Gebraucht HITACHI S-4700 #9159242 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Zwecken verwendet wird. Ausgestattet mit einem robusten Geschützobjektivdesign und leistungsstarken analytischen Fähigkeiten ist dieses Mikroskop gut für eine Vielzahl von Aufgaben geeignet, von grundlegenden bildgebenden und analytischen Messungen bis hin zu komplexen Experimenten. Die Säule des Mikroskops besteht aus zwei Hauptkomponenten: dem Elektronendetektor und der Objektivlinse. Im Elektronendetektor interagieren Elektronen mit einem Leuchtstoffschirm, um ein sichtbares Bild zu erzeugen. Die Objektivlinse fokussiert und lenkt den Elektronenstrahl ab, der beim Auftreffen der auf der Bühne platzierten Probe ein Signal erzeugt. Damit das Mikroskop feine Auflösungsbilder liefern kann, wird das Objektiv aus hochwertigen Materialien konstruiert. Darüber hinaus bietet sein doppelt verjüngendes Design ein starkes Fokusfeld und sorgt für eine leistungsstarke Bildgebung. Dies, gepaart mit der Fokus-Steuereinheit und der geometrischen Ausrichtungsflexibilität, verleiht dem Mikroskop eine hervorragende Leistung auch bei der Abbildung dünner Lamellen oder gekrümmter Proben. Darüber hinaus ist HITACHI S 4700 in der Lage, eine Reihe von Experimenten zu analysieren und durchzuführen. Dies ist aufgrund seiner Hochgeschwindigkeits-, Mehrfachstrahlanordnung und der Fähigkeit, den optimalen Strom auszuwählen, mit dem Revolver, der mehrere Elektronenenergien liefert, aktiviert. S-4700 eignet sich auch gut für quantitative Analyseexperimente wie Kartierung der Oberflächenkonzentration und kristallographische Orientierung. Das Autoprobe Dual Focusing System ermöglicht eine Feinsteuerung des Elektronenstrahls und ermöglicht eine hohe Aufnahmegeschwindigkeit. Ferner eignet sich S 4700 aufgrund seiner Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie zur erweiterten Oberflächencharakterisierung. Dabei wird die Elektronenkanone für die Feldemission optimiert, was in Verbindung mit speziellen Beschleunigungsgittern eine effiziente Quelle für hochenergetische Elektronen bietet, die für die Feinvektoranalyse verwendet werden können. Kurz gesagt, HITACHI S-4700 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das ein robustes Waffenlinsendesign, erweiterte Bildgebungsfähigkeiten, Mehrfachstrahlanordnung und Oberflächencharakterisierung kombiniert. Seine Fähigkeit, hochauflösende Bilder zu erzeugen, macht es für eine Vielzahl von Zwecken geeignet, einschließlich Bildgebung, Elementaranalyse, quantitative Analyse, Oberflächencharakterisierung und Vektoranalyse.