Gebraucht HITACHI S-4700 #9192126 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes und analytisches Instrument zur Beobachtung von Nanostrukturen, zur Charakterisierung von Materialien und zur Messung von Eigenschaften von Objekten auf mikroskopischer Ebene. HITACHI S 4700 verfügt über einen Vektorscan mit direktem Antrieb, der echte XY-Karten und Messungen ermöglicht. Es bietet auch eine automatisierte Niedervakuum (LV) -Ausrüstung mit einem Mindestdruck von 1 x 10-3 Torr. Das Instrument enthält eine Kaltkathoden-Ionenquelle, die eine lokalisierte Analyse von Proben und elementaren Karten ermöglicht. S-4700 verfügt über eine ultrahochauflösende FPM-5000 12-Bit-Auflösungskamera mit einem großen 5,7-Zoll-Bildschirm. Dies bietet Hochgeschwindigkeits-Bilderfassung, die eine Reihe von Bildgebungstechniken ermöglicht, einschließlich 3D, Rückstreuung Bildgebung und farbcodierte Karten. Die Strahlenergie von S 4700 ist zwischen 0,1 und 30kV einstellbar und kann über das Spulen- und Kondensatorlinsensystem gesteuert werden, so dass nur Elektronen der optimalen Energie auf die Probe fallen. Das Gerät hat auch Low Drift-Steuerung und Auto-Kontrast-Verbesserung Funktionen, die Verbesserung der Genauigkeit und Auflösung der Bilder. HITACHI S-4700 enthält einen CDD-1100 Detektor für hochauflösende Sekundärelektronenbilder sowie einen SDD-1K00 Niederspannungsdetektor für präzise Niederenergie-Bildgebung. Es ist mit einer hochintensiven Röntgenprobenstufe ausgestattet, die eine detaillierte Mikroanalyse ermöglicht. HITACHI S 4700 kann in einer Vielzahl von Modi betrieben werden, wie Spot-Modus, kontinuierlicher Scan-Modus, Alpha-Modus und gestufter Scan-Modus. Es ist auch mit einer automatisierten kleinen Probenstufe für die Punktmessung und einem Proben-Insruktor für die Montage von Substraten ausgestattet, so dass Benutzer Proben schnell und einfach montieren können. S-4700 bietet Anwendern eine breite Palette von Signalverarbeitungsfunktionen, um Bilder zu verbessern und das Angebot an Analysefunktionen zu erweitern. Es ist mit einer Primärelektron-SEM-Maschine ausgestattet, die Echtzeit-3D-Bildgebung, Partikelanalyse und Kartierung bietet. Abschließend ist S 4700 Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes und vielseitiges bildgebendes und analytisches Instrument, das für Anwendungen in einer Reihe von industriellen, wissenschaftlichen und pädagogischen Bereichen entwickelt wurde. Es kombiniert fortschrittliche Bildgebungsfunktionen, präzise Messungen und eine Reihe anspruchsvoller Signalverarbeitungsfunktionen in einem erschwinglichen Paket.