Gebraucht HITACHI S-4700 #9204608 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9204608
Field emission scanning electron microscope (FESEM) Accelerating voltage ranging: 0.5 to 30kV Resolution: 1.5nm Specimen stage titing: -5 to 360° C in continuous rotation Specimen: Upto 150mm diameter Multiple scanning modes Maxing out: (40) Frames per second.
HITACHI S-4700 ist ein High-End, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Forschern eine breite Palette von Fähigkeiten in der Materialwissenschaft und in der industriellen Analyse bietet. HITACHI S 4700 ist in der Lage, klare Bilder von Nanometerproben zu erzeugen, indem eine Kombination aus einer ultrahochen Vakuummaschine und visueller Verbesserungstechnologie verwendet wird. S-4700 verwendet eine High-End-Elektronensäule, um seine ultrahohe Auflösung bildgebende Fähigkeiten zu erreichen. Diese Säule ist mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die einen dicht fokussierten Elektronenstrahl erzeugt. Darüber hinaus verfügt die Säule über ein vierfaches Polsystem und ein Linsensystem mit Langzeitstabilität für beispiellose bildgebende Fähigkeiten. Neben seinen hervorragenden Bildgebungsfunktionen umfasst S 4700 auch eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen, um die Bedienung für den Benutzer zu erleichtern. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Bedienung. HITACHI S-4700 umfasst einen automatisierten Probenwechsler und mehrere Detektoren zur gleichzeitigen Beobachtung, wodurch der Wechsel zwischen verschiedenen Proben einfach ist. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4700 auch über erweiterte Funktionen wie automatische Fokussierung und Stigmation, Datenspeicherung und automatische Kompression von Bildern. S-4700 ist eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Forschungsbedürfnissen. Die ultrahochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten machen es für eine breite Palette von Materialanalyseanwendungen geeignet, wie die Messung der physikalischen Eigenschaften von Materialien wie Polymeren, Polykristallinen und Keramik. Darüber hinaus kann S 4700 auch in Studien an Halbleiterbauelementen verwendet werden, um Oberflächenfehler zu analysieren und die Leistung von Produkten zu bewerten. HITACHI S-4700 ist ein ideales Instrument für Labore, die High-End-Bildgebungsfähigkeiten suchen. Mit seinem breiten Spektrum an bildgebenden Funktionen, automatisierten Funktionen und intuitiver Benutzeroberfläche ist HITACHI S 4700 eine ausgezeichnete Wahl für High-End-Materialanalysen und Produktbewertungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor