Gebraucht HITACHI S-4700 #9204824 zu verkaufen
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ID: 9204824
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"
2000 vintage.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung mit Nanometergenauigkeit bietet. Das Mikroskop nutzt eine Reihe von Elektronenoptiken und Technologien, um beispiellose vergrößerte Bilder zu liefern. HITACHI S 4700 nutzt eine breite Palette von Elektronenoptiken, um die zu untersuchende Probe zu vergrößern. Dazu gehört eine Kaltfeld-Emissionskanone, mit der ein Elektronenstrahl erzeugt und auch die kleinste Probe durchdrungen werden kann. Die Pistole hat auch eine abnehmbare Kathode, die einen einfachen Probenaustausch ermöglicht. Das SEM verwendet ein fortschrittliches magnetisches Quadrupol-Objektivsystem, um eine optimale und genaue Abbildung der Proben zu gewährleisten. Dieses Linsensystem ist eine Kombination aus vier elektromagnetischen Spulen und arbeitet, indem der Strahl, der von der Pistole emittiert wird, auf die Probe fokussiert wird. Die Linsen erzeugen Nanometer-Pegelauflösungen und können Funktionen bis auf wenige Nanometer genau abbilden. S-4700 verfügt auch über eine Reihe von Detektoren, die verwendet werden, um Elektronen aus der Probe zu detektieren. Diese Detektoren messen die Signalstärke und den Energiepegel des Elektrons und ermöglichen es dem Benutzer, Proben mit unterschiedlichen Kontraststufen abzubilden. Einer der Detektoren ist ein Sekundärelektronendetektor, der Elektronen bis zu 5 nm detektieren kann und eine Reihe von Signalverbesserungen bietet. S 4700 verfügt auch über eine Hochvakuumkammer, die eine stabile Arbeitsumgebung bietet und Proben vor Umwelteinflüssen schützt. Diese Kammer ermöglicht eine erhöhte Luftdichtigkeit und -genauigkeit, wodurch sichergestellt wird, dass die Probe nicht beschädigt oder gestört wird. Schließlich verwendet HITACHI S-4700 ein leistungsfähiges Softwarepaket, um den Umfang der Informationen zu verbessern, die aus der Probe gesammelt werden können. Dazu gehören Funktionen wie 3D-Rekonstruktionen, Stereo-Bildgebung und Bildanalyse. Die Software bietet Benutzern auch die Möglichkeit, Bilder zu speichern, so dass ein einfaches Abrufen und Überprüfen möglich ist. HITACHI S 4700 Scanning Electron Microscope ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument, das eine hochauflösende Bildgebung, genaue Probenbeobachtung und verbesserte Signalsammlung ermöglicht. Seine fortschrittliche Elektronenoptik und Detektoren bieten eine höhere Auflösung und Genauigkeit, mit Nanometer-Pegelauflösung und ausgezeichneter Signalstärke. Gepaart mit seinem leistungsstarken Softwarepaket ist S-4700 ein großartiges Werkzeug für jedes Forschungslabor.
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