Gebraucht HITACHI S-4700 #9204827 zu verkaufen
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ID: 9204827
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1999
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
Main unit:
Fe tip: HITACHI FE Tip (Vext 4.2)
(4) Barion ion pumps
Oil pump: BOC EDWARDS STP 301H
Stage: Type 2 (5 Axes motor)
(2) SE Detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
Trackball: Joy stick
Display unit:
Monitor: LCD
HP Compaq computer: HP Z220
Control panel: HITACHI Image control panel
Keyboard: HP English
Operating system: Windows XP
Accessories:
(2) Rotary pumps
Down trans: Auto transformer (Type: KT-3100)
Capacity: 7.5 kVA
(2) Pumping hose types
Baking tool
Gun align tool
Sample holder
1999 vintage.
Das Hitachi HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das unglaublich detaillierte Bilder im Nanometermaßstab erzeugen kann. Dieses Mikroskop kann verwendet werden, um hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Proben zu erhalten, einschließlich biologischer und industrieller Proben. HITACHI S 4700 verfügt über einen großen Arbeitsabstand, wodurch es für die Abbildung großer Proben geeignet ist. Die beschleunigte Spannung für den Elektronenstrahl ist von 500-30.000 Volt einstellbar, so dass auch kleinste Proben wie einzelne Atome abgebildet werden können. S-4700 umfasst auch eine vergrößerte Ansicht von bis zu 800,000X, die eine hochauflösende Bildgebung einer Vielzahl von Probentypen ermöglicht. Mit den integrierten energiedispersiven Röntgen- (EDX) Detektoren kann S 4700 zwischen verschiedenen Elementen unterscheiden und bietet Forschern wertvolle elementare Verteilungskarten. HITACHI S-4700 ist weit verbreitet für eine Vielzahl von Anwendungen wie Materialwissenschaft, Halbleiterfehleranalyse, Life Science, Korrosions- und Umweltforschung und industrielle Prozessdiagnostik. Das Mikroskop kann extrem detaillierte Bilder erzeugen und ist ein ideales Werkzeug für Nanowissenschaften und Nanotechnologie. HITACHI S 4700 verwendet einen hochempfindlichen Sekundärelektronendetektor, um Sekundärelektronen zu registrieren, wenn der Primärelektronenstrahl auf die Probe auftrifft. Dies ermöglicht die Abbildung großer Flächen mit schnelleren Geschwindigkeiten und verbesserter Empfindlichkeit. S-4700 verfügt auch über eine Reihe automatisierter Funktionen, die den SEM-Bildgebungsprozess optimieren. Dazu gehören die automatische Indizierung von Parametern, die automatische Erzeugung von Kontrastkarten, die automatische Positionierung von Mustern und die automatische Messung von Merkmalen. Schließlich enthält S 4700 eine Vielzahl von Softwarepaketen, die eine einfache Bildgebung und Datenanalyse ermöglichen. Dazu gehören Softwarepakete für SEM-Bildgebung, digitale Bildverteilung, Röntgenzeilendatenanalyse, 3D-Mapping und Tomographie sowie EDS-Spektrumanalyse. Insgesamt ist HITACHI S-4700 ein hervorragendes Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Der große Arbeitsabstand, die einstellbare Strahlspannung, die leistungsstarke vergrößerte Ansicht, die automatisierten Bildgebungsfunktionen und die leistungsstarke Software machen es zu einem idealen bildgebenden Werkzeug für die Forschung in den Bereichen Life Science und Materialwissenschaft.
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