Gebraucht HITACHI S-4700 #9241883 zu verkaufen
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ID: 9241883
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
1.5 nm with 15 kV beam, 12 mm working distance
2.1 nm with 1 kV beam, 1.5 mm working distance
Magnification:
High mag mode: 100x - 500,000x
Low mag mode: 20x - 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV
Lens: 3-Stage electromagnetic lens
Objective lens aperture:
Movable aperture
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection type
Specimen stage:
X Range: 0 to 25 mm
Y Range: 0 to 25 mm
Z Range: 1.5 to 26.5 mm
Tilt range: -5 to 45 degrees
Rotation: 360 degrees
Spec. size: Maximum100 mm diameter
Display options:
Scanning speeds:
Live viewing: 0.5 to 40 sec per frame
Photo: 17 - 333 seconds per frame
Electrical image shift: 15 um at 12 mm
Evacuation system:
Ultimate vacuum levels
Specimen chamber: 7E^-4 Pa
Electron gun chamber: 2E^-7 Pa at ion pump 1
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump or turbo molecular pump
(2) Oil rotary pumps
Acoustic noise: Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500 VAC/1 min
Microscope control OS: Windows XP
Does not include EDAX.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Visualisierung nanoskaliger Objekte und Materialien verwendet wird. Es liefert hochauflösende Bilder mit unübertroffener Bildschärfe, vergleichbar mit herkömmlichen Laborlichtmikroskopen ohne die Notwendigkeit von applizierten Kontrastmitteln. Das SEM arbeitet in zwei Modi: Scanmodus und Punktmodus. Im Scanning Mode wird ein homogenisierter Elektronenstrahl von der Elektronenkanone emittiert und durch eine Reihe elektromagnetischer Linsen auf die Probe fokussiert. Während der Strahl die Probe abtastet, werden die Elektronen rückgestreut gesammelt und dann in einem Elektronendetektor detektiert. Dies ermöglicht die Bildung eines digitalen Abbildes der Probe mit ultrahoher Auflösung. Der Point Mode SEM erzeugt einen einzigen dicht fokussierten Elektronenstrahl, der verwendet werden kann, um einzelne Bereiche von Interesse auf der Probe zu lokalisieren und zu analysieren und extrem hochauflösende Bilder der vorhandenen Merkmale zu erzeugen. Dadurch kann der Anwender präzise und präzise Messungen von Abmessungen, Formen und anderen Eigenschaften durchführen. HITACHI S 4700 verfügt auch über verschiedene Detektorkonfigurationen und fortgeschrittene bildgebende Verfahren, um dem Benutzer zu ermöglichen, eine Vielzahl von Materialien und deren Eigenschaften zu beobachten. Die integrierten analytischen Fähigkeiten des SEM umfassen die Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Mit AALEN kann der Benutzer die gestreuten Elektronen aus einer beschleunigenden Spannung verwenden, um den Energieverlust der Elektronen zu messen und die Atome zu identifizieren, aus denen die Probe besteht. Mit EDS werden Röntgenstrahlen aus der Probe emittiert, um elementare Informationen über die Zusammensetzung der Probe bereitzustellen. S-4700 arbeitet nahtlos mit allen HITACHI-Bildgebungssystemen zusammen, so dass der Benutzer schnell und einfach Bildverarbeitung, Analyse und Datenverarbeitung durchführen kann. Der Controller und die Software bieten automatisierte Operationen, die es dem Benutzer ermöglichen, Funktionen auf der Probe schnell zu identifizieren, zu messen und zu analysieren und die Ergebnisse zu exportieren. S 4700 ist das ideale Werkzeug für Forschungslabore in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Biowissenschaften; sowie die Erzeugung hochgenauer Bilder und Daten auf der Nanoskala.
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