Gebraucht HITACHI S-4700 #9245498 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungsmodell des Elektronenmikroskops, das die Masse und Oberfläche von Proben im Nanometermaßstab untersuchen kann. Als eines der führenden HITACHI-Modelle von SEM bietet HITACHI S 4700 Forschern, Herstellern und Herstellern, die für ihre Projekte ein hochauflösendes, leistungsstarkes Mikroskop benötigen, eine Vielzahl von Funktionen und Funktionen. Das Instrument bietet eine Vielzahl von Bilderfassungstechnologien, vor allem seinen sekundären Elektronen (SE) Bildgebungsmodus, der Partikel, Cluster von Partikeln und Fasern im Nanometermaßstab anbietet. Diese Funktion wird durch die SNMS-Technologie (Secondary Neutral Mass Spectrometry) unterstützt, die die Erzeugung chemischer Informationen von fast jeder Probe ermöglicht. Der SEM-Modus (High Angle Annular Dark Field SEM) ermöglicht die Analyse von Objekten mit Nanometer-Querauflösungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und hoher Detektionseffizienz, die durch seinen Ultrahochspannungsdetektor unterstützt wird. Darüber hinaus ermöglicht S-4700 die Analyse einer Vielzahl von Elementen durch die EDX-Fähigkeit (Energy Dispersive Röntgenanalyse). Die Kombination dieses mit seinem maßgeschneiderten Röntgendetektor hilft, genaue Daten und verbesserte Effizienz bei der Probenuntersuchung zu erzeugen. S 4700 bietet darüber hinaus eine große Auswahl an automatisierten Funktionen zur Optimierung des Proben-Workflows wie automatisierte Filmgrößenerkennung, Stufenwanderverhinderung und Z-Shift-Kompensation. Darüber hinaus ermöglicht HITACHI S-4700 mit seiner Reihe fortschrittlicher Hardware-, Software- und bildgebender Ausrüstungsfunktionen es Forschern, praktisch jede Oberfläche oder Probe zu analysieren. Darüber hinaus verfügt das Modell über ein eigenes eingebautes Probenvorbereitungssystem; ein Merkmal, das bei der Herstellung der Probe zur Bildgebung hilft. Weitere Merkmale der Probenvorbereitung sind ein Halter für flüssigen Stickstoff für Kryo-SEM und eine nasse Probenzelle für flüssige Proben, um vorgefrorene Bilder zu erhalten. Kombiniert mit diesen einzigartigen Eigenschaften verfügt das Modell über eine intuitive Bedieneinheit und einen Touchscreen, mit dem Benutzer das Gerät einfach und intuitiv bedienen können. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4700 über eine neuartige X-Y Navigationsmaschine, die sowohl 2D- als auch 3D-Navigation in einer Einheit integriert. Dies erhöht die Flexibilität des Modells und ermöglicht es Benutzern, dasselbe SEM für 2D- oder 3D-Bildaufträge zu verwenden. Insgesamt bietet S-4700 eine Vielzahl innovativer Lösungen für Anwender und ist ein Branchenführer in der Rasterelektronenmikroskopie. Seine Fähigkeit, Geschwindigkeit, Genauigkeit und Präzision zu kombinieren, macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Materialwissenschaft, Qualitätskontrolle und Laborarbeit. Mit seiner Benutzerfreundlichkeit und seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen in Kombination mit seinen vielseitigen Scanmodi ist S 4700 das perfekte Werkzeug für Projekte, die ein Hochleistungs-SEM benötigen.