Gebraucht HITACHI S-4700 #9269385 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hervorragende Bildgebungsleistung mit ultimativer Flexibilität bietet. Es verwendet eine innovative Feldemissionselektronenkanone (FEG), die es für eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, einschließlich EDS- und EBSD-Analyse, gut geeignet macht. Mit seinen hochauflösenden Funktionen ermöglicht HITACHI S 4700 eine detaillierte Analyse winziger Proben und oberflächenmorphologischer Eigenschaften. S-4700 ist mit einem vollautomatischen Bildnahtsystem ausgestattet, das größere Sichtfelder ermöglicht, ohne auf Bildauflösungen zu verzichten. Dies wird durch den Einsatz von Overlay-Bühnenfunktionen erreicht, die genaue und präzise virtuelle Nähte bieten. S 4700 verfügt auch über eine Hochgeschwindigkeits-Scan/Zoom-Funktion, so dass Benutzer von einem weiten Sichtfeld zu hochauflösenden Bildgebung in Sekunden gehen. HITACHI S-4700 ist kompatibel mit einer Vielzahl von Probenvorbereitungswerkzeugen und Zubehör, wie Ionenstrahlpolieren, Ionenbeschleunigerbearbeitung, erweiterte Tiefen des Feldes und Kryo-Vorbereitung. HITACHI S 4700 verfügt auch über einen optionalen verfügbaren Probenhalter, der verwendet werden kann, um eine breite Palette von Musterformen und -größen zu unterstützen. Darüber hinaus ermöglicht S-4700 die volle Kontrolle über den Elektronenstrahl und ermöglicht eine Feinabstimmung von Parametern wie Farbe, Kontrast, Helligkeit und Farbbalance. Der eingebaute Strahlblanker reduziert Probenschäden durch Bestrahlung durch Abschneiden überschüssiger Elektronen. Die integrierten Algorithmen zur Bildverbesserung verbessern die Bildtreue ohne Verlust von Originalinformationen. Das mechanische Design des S 4700 ist für höchste Stabilität und Zuverlässigkeit ausgelegt. Es verwendet ein Lastverriegelungssystem, um Gasverunreinigungen zu reduzieren oder zu beseitigen. Die Hochspannungsnetzteile verfügen über einstellbare Operationen mit voller Reichweite und bieten eine optimale Leistung für jede Probe. HITACHI S-4700 verfügt über eine benutzerfreundliche Schnittstelle, mit Software-Kontrolle über alle SEM-Parameter, einschließlich „Touch Rock-and-Roll“ Vergrößerung, aktuelle Reichweitensteuerung, Helligkeit/Kontrast Kalibrierungen, und Bild arithmetische Funktionen. HITACHI S 4700 bietet auch eine Vielzahl von Bildgebungs-/Analyseoptionen, einschließlich automatischer Zähl- und Zeilenscannfunktionen, Durchfokus-Bildgebung und erweiterter Tiefenschärfenscannung. Insgesamt bietet S-4700 eine Fülle vielseitiger Bildverarbeitungsfunktionen und erweiterte Softwaresteuerung. Dieses anspruchsvolle SEM ermöglicht außergewöhnliche bildgebende Details und unübertroffene Ebenen der Probenvorbereitung und ist damit eine ideale Lösung für Forschung und Industrieanwendungen.