Gebraucht HITACHI S-4700 #9284210 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine überlegene Bildauflösung über eine breite Palette von Probentypen und Geometrien bietet. Im Zentrum der HITACHI S 4700 steht eine Elektronenkanone mit einer einzigartigen horizontalen Filamentanordnung, die es dem Bediener ermöglicht, einen leistungsstarken einheitlichen Elektronenstrahl bereitzustellen. Die hochenergetischen Elektronenstrahlen bieten helle Bilder mit ausgezeichneter Tiefenauflösung, die eine Analyse einzelner Nanostrukturen und Mikrostrukturen sowie eine großflächige Analyse größerer Proben ermöglichen. S-4700 bietet dank seiner hohen optischen Auflösung auch eine überlegene Auflösung gegenüber anderen SEMs. Dies wird durch die fortgeschrittenen Objektive und Sekundärelektronendetektoren ermöglicht, die Bilder mit einer Auflösung von weniger als drei Nanometern bereitstellen. S 4700 bietet zudem automatisiertes In-situ-Scannen, mit dem der Bediener große Bereiche schnell in drei Dimensionen scannen kann. HITACHI S-4700 verfügt über optimierte Workflows und intuitive Benutzeroberflächen sowie automatisierte Funktionen wie automatisierte Fokussierung und Stigmate, die einen insgesamt optimierten Betrieb ermöglichen. Das Mikroskop bietet auch eine breite Palette von Abbildungsmodi, einschließlich Augmentive Field Emission Scanning, Schnecke und Röntgenenergie dispersive Spektroskopie, Rückstreuelektronenbildgebung, Hellfeld und Dunkelfeld Bildgebung, Kathodolumineszenz und Ultra-Hochvakuum-Bildgebung. Abschließend ist HITACHI S 4700 ein leistungsstarkes und anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Probentypen und Geometrien analysieren kann. Die fortschrittliche Elektronenkanone und die optische Auflösung von S-4700 bieten eine überlegene Bildauflösung und die automatisierte In-situ-Abtastung und die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglichen eine schnelle und einfache Bedienung. Die Hinzufügung einer breiten Palette von bildgebenden Modi erhöht die Flexibilität von S 4700 und ist damit eine ideale Wahl für Materialwissenschaften und Halbleiterfehleranalysen.