Gebraucht HITACHI S-4700 #9315416 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine hochentwickelte bildgebende Ausrüstung, die für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Dieses hochpräzise Mikroskop ist in der Lage, detaillierte Bilder von Proben bei hoher Vergrößerung zu erzeugen und so einzigartige Einblicke in die inneren und äußeren Strukturen des Probenmaterials zu gewähren. HITACHI S 4700 verfügt über mehrere erweiterte Funktionen, die es zu einer attraktiven Option für eine breite Palette von Forschung und industriellen Anwendungen machen. Dieses Mikroskopiesystem verfügt über eine hochauflösende Bildaufnahmeeinheit, mit der Benutzer unübertroffene Vergrößerungsgrade von bis zu 1.000.000 × erreichen können. Diese beeindruckende Vergrößerung wird durch den Einsatz einer Strahlabtastmaschine und eines hochempfindlichen Detektionswerkzeugs ermöglicht. Beide Systeme helfen, die feinen Details von Proben zu erfassen und durch hochwertige Bildgebung sichtbar zu machen. S-4700 verfügt auch über eine fortschrittliche Elektronenoptik und eine mechanische Bildgebung, die es Benutzern ermöglicht, Bilder mit hohem Kontrast und scharfer Auflösung zu erhalten. Dies geschieht durch die Verwendung mehrerer optischer Komponenten, wie Raumfilter, Zentrier- und Beleuchtungslinsen und einer Blende. Alle diese Komponenten erhöhen den erreichbaren Detailgrad und ermöglichen eine präzise und genaue Abbildung empfindlicher Materialien. Das SEM-Modell zeichnet sich zudem durch eine ultrafeine Probenoberflächenbildfähigkeit durch den Einsatz der variablen Druckgeräte aus. Diese einzigartige Konstruktion ermöglicht es Benutzern, die Instabilität der Probenoberfläche zu verringern, indem der Druck in der die Probe umgebenden Kammer manipuliert wird. Diese Funktion hilft Benutzern, mit verschiedenen Material- und Oberflächentypen zu experimentieren, wodurch sie die Fähigkeit erhalten, Oberflächeneigenschaften wie Oberflächentopographie und Morphologie besser zu untersuchen. HITACHI produziert mehrere Betrachtungs- und Analysesysteme für S 4700 und bietet Forschern Möglichkeiten zur Anzeige und Manipulation von Bildern für verschiedene Untersuchungsmethoden. Kommt mit simultanen Bildgebungs- und Plottfunktionen ausgestattet, so dass Benutzer mehrere Bilder anzeigen und mit einer Vielzahl von Werkzeugen analysieren können, wie z. B. Bildgebung im Mutli-Modus, Zoomen, Schwenken und 3D-Rendering-Tools. Zusätzlich können kompatible Softwarepakete zur Herstellung von speziellen Bildanzeigefunktionen wie Analysedaten oder grafischen Simulationen integriert werden. Schließlich ist HITACHI S-4700 mit mehreren automatisierten Bühnensystemen kompatibel, die eine präzise Musterpositionierung und -bewegung ermöglichen. Diese Funktion spart Zeit durch automatisches Navigieren einzelner Proben und erleichtert so die zeitnahe Durchführung des Abbildungsprozesses. Insgesamt ist das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S 4700 ein fortschrittliches bildgebendes System, das sich ideal für eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen eignet. Mit beeindruckenden Vergrößerungsgraden, präziser Bildgebung, spezialisierten Analysefunktionen und automatisierten Bühnenfunktionen ist dieses Gerät in der Lage, genaue Ergebnisse mit höchster Genauigkeit und Präzision zu erzielen.