Gebraucht HITACHI S-4700 #9316050 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in einer Vielzahl von Werkstoffforschungsanwendungen eingesetzt wurde. Es hat eine hohe Beschleunigungsspannung, die von 0.2-30kV reicht, ermöglicht die Erfassung höherauflösender Bilder und detaillierter. Dazu gehört auch die Untersuchung kleinerer Strukturen und empfindlicher Proben. Eine obere Kammerblickeinrichtung verwendet einen Elektronensignaldetektor und eine Laserstrahlbeleuchtung. Sein großes kreisförmiges Sichtfeld ermöglicht die Beobachtung eines breiten Spektrums von SEM-Proben in nur einem Durchgang. Diese Drehung um 0-360 Grad kann eine umfassendere Querschnitts- und 3D-Abbildung ermöglichen. Die optische Säulenkonstruktion weist ein einziges bewegliches Polstück sowohl für die Elektronenkanone als auch für die Bühne auf. Sein Vakuumspiegel kann von höher als der der oberen Kammer auf Ultrahochvakuum (UHV) eingestellt werden. Die in der Umweltregelkammer (EC) eingebaute Kammer ist flexibel gestaltet. Sein Temperaturregelsystem verfügt über einen eingebauten flüssigen Stickstoffbehälter für TEM-Studien mit niedriger Temperatur. HITACHI S 4700 verfügt über eine integrierte Videomikroskopeinheit (VMS) mit Kameravergrößerungen von 10x bis 10.000x. Dies bietet eine hochauflösende Farbanzeige. HITACHI S-4800 hat eine fakultative Hochleistungsmikrostrukturanalysemaschine, die einen zeitaufgelösten SEM und eine Bildaufbereitungselektronuntersuchung (XIP) Werkzeug einschließt. Die XIP-Kombination ermöglicht den direkten Nachweis der Elementaranalyse in kristallinen und amorphen Proben unter Verwendung des Sekundärelektrons, rückgestreuten Elektronen und deren Verhältnissen. S-4700 ist komplett mit einer Vielzahl von Zubehör für die Probenvorbereitung. Dieses Zubehör umfasst einen Verdampfer, eine hydraulische Presse und einen Sputterüberzug zum Abscheiden von dünnen Folien. S 4700 verfügt zudem über eine Touchscreen-Oberfläche und eine intuitive Software zur einfachen Bedienung aller Mikroskopkomponenten. Eine Vielzahl von Messfunktionen, einschließlich der automatischen Ausrichtung von SEM-Bildern, stehen zur Verfügung.