Gebraucht HITACHI S-4700 #9382978 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl im Nieder- als auch im Hochvakuum betrieben werden kann. Das SEM eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen wie Oberflächenbildgebung, Elementaranalyse und Probenmanipulation. HITACHI S 4700 ist mit einem energiedispersiven Spektrometer (EDS) für die Probenanalyse ausgestattet, das sowohl elementare Kartierungs- als auch Quantifizierungsmöglichkeiten bietet. Die EDS ist auch in der Lage, eine breite Palette von Elementtypen zu erwerben und liefert hochauflösende Analysen. Darüber hinaus verfügt S-4700 über einen Sekundärelektronendetektor (Secondary Electron Detector, SED), der geeignet reagiert, hochempfindlich ist und bildgebende Signale mit treuer Darstellung aufzeichnen kann. S 4700 hat eine große Kammergröße, um maximalen Komfort während der Probenbeladung und Beobachtung auch bei großen Proben zu gewährleisten. Die SEM-Kammer ist temperaturgeregelt und die eingebauten Temperatursensoren können Temperaturschwankungen erkennen, um eine optimale Stabilität zu gewährleisten. HITACHI S-4700 ist einfach zu bedienen und nutzt eine intuitive Onboard-Benutzeroberfläche. Diese Schnittstelle ermöglicht es dem Benutzer, Parameter für die SEM-Bildgebung und EDS-Analyse zu steuern und einzurichten, einschließlich Detektorverstärkung, Strahlstrom und Belichtungszeit. Das SEM verfügt auch über eine automatisierte automatische Tune-Funktion, die die richtigen Parameter und Bedingungen für die Bildgebung einstellt und eine optimale Leistung gewährleistet. HITACHI S 4700 bietet anspruchsvolle Scanfunktionen. Merkmale wie eine leistungsstabilisierende Halterung ermöglichen es dem Benutzer, die Beschleunigungsspannung einzustellen, um die Probe mit einem Bereich möglicher Vergrößerungen und Auflösungen abzubilden. Darüber hinaus bietet S-4700 ein breites Spektrum an Handhabungsmöglichkeiten für Proben wie Vakuumbeschichtung, Probeninszenierung und In-situ-Probenanalyse. Insgesamt ist S 4700 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen und Fähigkeiten. Die eingebauten Funktionen und automatisierten Systeme machen es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von SEM-Anwendungen sowohl in der Forschung als auch in der Industrie.