Gebraucht HITACHI S-4700 #9401458 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Reihe von Funktionen bietet, um den Anforderungen moderner Forschung und industrieller Anwendungen gerecht zu werden. Das Gerät ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle und einer Objektivlinse mit großem Arbeitsabstand für eine verbesserte Bildgebung ausgestattet. Das FEG-System ist in der Lage, hellere und schärfere Bilder in einer Vielzahl von Auflösungen vom Subnanometer-Niveau bis zu mehr als 8 nm zu erzeugen. Die bildgebenden Fähigkeiten von HITACHI S 4700 eignen sich am besten für Anwendungen, bei denen kleine Partikel und biologische Proben untersucht werden. Die durch den Aufprall des Hochspannungselektronenstrahls auf die Probenoberfläche erzeugten Sekundärelektronen können topographische Informationen mit Subnanometerauflösung aufzeigen. Die Einheit kann auch für Oberflächenanalyseanwendungen wie die Messung der Oberfläche, Korngröße und Elementzusammensetzung verwendet werden. Integriert mit einem energiedispersiven Spektrometer kann die Maschine auch eine hochauflösende Elementaranalyse durchführen. S-4700 wurde auch entwickelt, um Hochgeschwindigkeitsbilder und hohe Durchsatzoperationen anzubieten. Mit der eingebauten Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera kann das Mikroskop Bilder schneller aufnehmen als jedes andere herkömmliche SEM. Seine große Kammer und Stufe ermöglichen einen hohen Durchsatz bei großen Probenvolumina. S 4700 bietet Flexibilität bei der Probenmanipulation und -beobachtung. Mit dem Zusatz der neu entwickelten magnetischen Stufe ist das Werkzeug in der Lage, 360-Grad-Rotationsabtastung von Proben, so dass der Benutzer einen größeren Bereich von Bildern mit weniger Fotos zu erhalten. Darüber hinaus sind in der großen Kammer mehrere Probenmanipulationstechniken, wie Kippen und Stufen mit Nadel- oder Mikrosondenmanipulatoren, untergebracht. Für fortgeschrittene Anwender bietet HITACHI S-4700 eine breite Palette benutzerfreundlicher Software- und Hardwareoptionen. HITACHI Automated Control Asset (HACS) ist für eine einfache Bedienung ausgerüstet, so dass Benutzer einfach Parameter für die Bildgebung einrichten und ihre Daten analysieren können. Darüber hinaus bieten die neuen Softwareoptionen, wie das HITACHI Automated Image Analysis Model (HAIAS), leistungsstarke Tools für Anwender, um die aus dem SEM gewonnenen Bilder zu verarbeiten und zu analysieren. Abschließend ist HITACHI S 4700 ein fortschrittliches SEM, das außergewöhnliche Bildgebungsfunktionen, hohe Durchsatzleistung und flexible Probenmanipulation bietet. Die Kombination dieser Merkmale macht die Ausrüstung zu einer idealen Plattform für fortgeschrittene Forschung und industrielle Anwendungen sowie für die Elementaranalyse.