Gebraucht HITACHI S-4800 Type I #9160160 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Verkauft
ID: 9160160
Weinlese: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With HORIBA EDX
Workstation: HP DC7100MT
Operating system: Windows XP
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 30x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage: 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (100 V Steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture: 4 Openings selectable / Alignable outside column
Self-cleaning thin aperture
Electromagnetic astigmatism correction coil
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic deflection type
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 50 mm
Y-Traverse: 0 to 50 mm
Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm
Tilt: -5° to 70°
Rotation: 360°
Specimen size: 4" (Airlock type)
Display unit:
Display type: Flicker free image on PC monitor
Viewing monitor: LCD, 18.1"
Type 21 color CRT (1280 x 1024 Pixels)
Photo CRT: Ultra-high resolution type
Effective field of view: 120 x 90 mm
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV: 640 x 480 Pixels display: 25 / 30 frames/s
NTSC / PAL Signal
Fast: Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s
Slow:
Full screen display: 1/0.9, 4/3.3, 20/16, 40/32, 80/64 frames/s
640 480 Pixels display: 0.5/0.4, 2/1.7, 10/8, 20/16, 40/32 frames/s
Photograph:
2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 frames/s
Value of 50/60 Hz
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Electrical image shift: ±12 um
Evacuation system:
Type: Fully automatic pneumatic-valve system
Vacuum levels:
Specimen chamber: 7 x 10^-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1: 1 x 10^-7 Pa
IP-2: 2 x 10^-6 Pa
IP-3: 7 x 10^-5 Pa
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil-less type
Compressor: Oil-less type
2008 vintage.
HITACHI S-4800 Type I ist ein Rasterelektronenmikroskop der HITACHI High-Tech Science Corporation. Es ist ein ultrahochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Visualisierung und Analyse nanoskopischer Strukturen. Mit seinen einzigartigen Leistungsvorteilen bietet das System erstklassige Leistung für Bildgebung und Analyse. S-4800 Typ I ist mit einer leistungsstarken SEM-Säule ausgestattet, die eine beispiellose Leistung liefert. Es erreicht ein ultrahochauflösendes analytisches Bild mit einer Kombination aus zylindrischer Magnetfeldlinse und Kugelfeldlinse. Dies liefert 10 nm Auflösung bei 10 kV - und erhöht auch die Stabilität und verbessert die Bildgebungsleistung. Darüber hinaus ermöglicht sie eine Reduzierung der Entmagnetisierungsrate, was letztlich zu höchster Leistung ohne Kompromisse in der Bildqualität führt. Um die Leistung und Stabilität weiter zu verbessern, verwendet HITACHI S-4800 Type I eine externe Feldquelle. Dies macht das Mikroskop deutlich stabiler und bietet auch ein besseres Signal-Rausch-Verhältnis. Die Feldquelle steuert die Form und Stärke des Strahlelektronenweges genau. Dies ermöglicht die Abbildung auch mit sehr instabilen Objekten. S-4800 Typ I ist ideal für Forschungsanwendungen, die eine genaue Messung von Materialien und Merkmalen erfordern. Es kommt mit einer Vielzahl von automatisierten Analysefunktionen, einschließlich; Mustererkennung, quantitative Messung (Fläche, Länge, Breite usw.) und Kristallphasenerkennung (durch EDS-Analyse). Es verfügt auch über einen integrierten EDX-Detektor, der eine schnelle Elementaranalyse ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht die erweiterte automatisierte Suchfunktion eine einfache Navigation in einem großen Beispielfeld. HITACHI S-4800 Type I bietet auch eine Reihe von verschiedenen Modi für Bildgebung und Analyse. Der hochauflösende Scanmodus sorgt für scharfe und klar definierte Bilder. Der rauscharme Detektionsmodus ermöglicht eine präzise Analyse empfindlicher Proben ohne Verbindung mit Elektronen. Darüber hinaus hilft der leitende Bildabtastmodus, klare Bilder von nicht leitenden Oberflächen zu erhalten. Für eine unschlagbare Performance zeichnet sich S-4800 Typ I als ideale Wahl aus. Sein ultrahohes Spezifikationsdesign sorgt für hervorragende Bildgebungs- und Analysefunktionen, während der Bereich der automatisierten Funktionen das System einfach zu bedienen macht. Mit seiner zuverlässigen und überlegenen Leistung ist HITACHI S-4800 Type I die perfekte Wahl für fortgeschrittene Mikroskopiebenutzer.
Es liegen noch keine Bewertungen vor