Gebraucht HITACHI S-4800 Type I #9270676 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Type I ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) mit Dual-Mikroskopen, das sowohl eine Standard- als auch eine In-Linsen- (Niederspannungs-) Bildgebung ermöglicht. Dieses System ist hochkonfiguriert und umfasst eine fortschrittliche Wafer-Stufe, eine große Auswahl an Detektoren, einen Spaltenwinkel und eine Neigung sowie eine großzügige Auswahl an Detektoren. Das elektronenoptische System des S-4800 bietet leistungsstarke Vielseitigkeit. Mit den Doppelmikroskopen können Proben in einem Bereich von Vergrößerungen und Beschleunigungsspannungen gescannt werden, wobei jedes Mikroskop eine einstellbare Stufe aufweist, so dass verschiedene Proben leicht inspiziert werden können. Die Waferstufe ermöglicht eine feinere Kontrolle über die Neigung und Drehung der Probe, während der In-Linsen-Detektor eine Visualisierung von Oberflächenmerkmalen bei niedriger Spannung ermöglicht. Das S-4800 verfügt außerdem über eine Reihe von Detektoren, darunter einen SE-Detektor, BSE-Detektor, SE/BSE-Detektor und CL-Detektor. Der SE-Detektor wird fortgeschritten und für die Abbildung von Proben bei niedrigen Energien verwendet, während der BSE-Detektor am besten für die Abbildung von Proben bei höheren Energieverteilungen geeignet ist. Mit dem SE/BSE-Detektor werden die subtilen Kontraste zwischen Elektronen in beide Richtungen detektiert. Der CL-Detektor ist ideal für die Elementaranalyse und sehr empfindlich auf die Zusammensetzung einer Probe. Das S-4800 ist auch mit einer halbautomatischen Probenkammer ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, aus einer Vielzahl von Probenoptionen auszuwählen. Die Kammer verfügt über eine optionale Seitenbeladungskammer, um große Proben untersuchen zu können, und eine Auswahl an variablen Druckprobenhaltern für spezielle Proben. Die Proben können auch für die automatisierte Navigation und Ausrichtung angepasst werden, was die Lokalisierung auf der Wafer-Bühne erleichtert. Darüber hinaus verfügt das S-4800 über eine Multitasking-Bildverarbeitungssoftware. Dieses Programm wurde entwickelt, um komplizierte 3D-Bilder zu analysieren und präzise quantitative Informationen zu erzeugen, während die Probenmerkmale in mehreren Kanälen genau wiedergegeben werden. Das S-4800 bietet eine bequeme, benutzerfreundliche Umgebung für die Probenuntersuchung und -analyse. Abschließend ist S-4800 Typ I ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop mit einer Doppelmikroskopkonfiguration und einer Fülle fortschrittlicher Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten. Es ist die klare Wahl für Forscher, die genaue Informationen aus ihren Proben mit feinster Detailgenauigkeit und Genauigkeit extrahieren wollen.