Gebraucht HITACHI S-4800 Type II #9223407 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Type II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bilder verschiedener Proben entwickelt wurde. Es ist ein vielseitiges Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Untersuchung von Oberflächenmikrostrukturen und Durchführung von Probenbildgebung und -analyse verwendet werden kann. HITACHI S 4800 TYPE II verwendet sekundäre Elektronendetektortechnologie, um hochauflösende Bilder von Proben mit hohem Kontrast und Detail zu erzeugen. Das bildgebende System verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) -Säule, die einen Elektronenstrahl mit einer sehr hohen Helligkeit und einer sehr geringen Emission liefert, die eine verbesserte Bildauflösung und eine ausgezeichnete Tiefenschärfe ermöglicht. S-4800 Typ II bietet eine Vielzahl von Detektionsmodi wie rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE), Röntgenkristallanalyse, Spannungskontrastbildgebung und Strahlverzögerungsbildgebung. Die Potentialauflösung aus der FEG-Spalte beträgt 0,5 nm und die maximale Beschleunigungsspannung des Elektronenstrahls 30 kV. Darüber hinaus verfügt das SEM über eine automatisierte Hochdurchsatzstufe, die bis zu 30 Probenhalter aufnehmen kann. Auf diese Weise können Proben für einen effizienten SEM-Betrieb schnell durch den Betrachtungsbereich bewegt werden. Darüber hinaus bietet S 4800 TYPE II auch ein fortschrittliches Analysepaket, mit dem Benutzer elementare Echtzeit-Analysen und quantitative Bildgebung durchführen können. Dieses System umfasst ein Kaltkathoden-Ionen-Massen-Spektrometer (CCIMS), das bis zu fünf verschiedene Elemente gleichzeitig messen und abbilden kann. Darüber hinaus ist das Gerät mit einem digitalen Bildverarbeitungssystem ausgestattet, das eine Vielzahl von Bildtransformationen wie Größen- und Formmessungen, Flächenbruchanalyse und Z-Map-Bildrekonstruktion ermöglicht. Insgesamt ist HITACHI S-4800 Type II ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das auf die Bedürfnisse von Forschern und Ingenieuren zugeschnitten ist, die hochwertige Bilder und verbesserte analytische Fähigkeiten benötigen. Es verfügt über eine verbesserte FEG-Spalte, verschiedene Abbildungsmodi und ein erweitertes Analysepaket für die Echtzeitanalyse von Proben. Mit einer solchen Vielzahl von Funktionen ist HITACHI S 4800 TYPE II ein ideales Werkzeug zur Erkundung der Mikrostrukturen verschiedener Materialien.