Gebraucht HITACHI S-4800 Type II #9311014 zu verkaufen

ID: 9311014
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" No EDX Maximum magnification: 600,000x 2006 vintage.
Typ II von HITACHI S-4800 ist eine hohe Leistungskälte Feldemissionsabtastung des Elektronmikroskops (SEM). Diese Art von Mikroskop verwendet eine einzigartige Kaltfeld-Emissionskanone, die eine hochauflösende, rauscharme Bildgebung mit großer Schärfentiefe bietet. Die Elektronenquelle ist eine Feldemissionskanone, die die Notwendigkeit eines thermionischen Emitters eliminiert und eine höhere Auflösung als herkömmliche SEMs ermöglicht. Es verfügt über einen breiten Energiebereich von 5 bis 30 keV und ermöglicht sowohl die großflächige Bildgebung als auch die Analyse von dünnen Filmen. HITACHI S 4800 TYPE II ist mit einer großen Stufe ausgestattet, die den Einsatz größerer Proben und/oder mehrerer Proben auf einmal ermöglicht. Die Stufe hat eine maximale Probengröße von 200 mm x 150 mm und kann ein maximales Probengewicht von 10 kg unterstützen. Die Bühne hat X- und Y-Bewegung mit einem Scanbereich von 70 mm in X und 50 mm in Y. Es gibt auch die Zugabe eines Neigungsmusterhalters, mit dem Benutzer abgewinkelte Proben bis zu 20 Grad abbilden können. S-4800 Typ II verfügt über eine hochauflösende Digitalkamera und ein digitales Rahmenübertragungssystem. Dadurch können qualitativ hochwertige Bilder von Proben erfasst und auf eine Vielzahl von Materialeigenschaften analysiert werden. Die Kamera hat eine Auflösung von 3.000 x 2.500 Pixel und eine maximale Bildrate von 10 fps. S 4800 TYPE II verfügt über eine Vielzahl von Bildverarbeitungsmodi, die Benutzer verwenden können. Dazu gehören SE (Sekundärelektron), BSE (Backscattered Electron), EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) und WDS (Wide-Angle Energy Dispersive Spectroscopy). Diese Modi ermöglichen die Quantifizierung der Materialeigenschaften und der chemischen Zusammensetzung der Proben. HITACHI S-4800 Type II ermöglicht eine automatisierte automatisierte Funktionsanalyse von Proben. Dazu gehören eine automatisierte Korngrößen- und Formanalyse sowie elementares Mapping und EBSD (Electron Backscatter Diffraction). Die automatisierten Funktionen sind sehr nützlich für materialwissenschaftliche und technische Anwendungen. HITACHI S 4800 TYPE II ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Branchen optimiert. Es ist ideal für die Halbleiterindustrie sowie für Materialwissenschaften, Ingenieurwissenschaften und medizinische Forschung. Dieses SEM hat eine außergewöhnliche Bildqualität und ist äußerst vielseitig einsetzbar. Es ist ein zuverlässiges und kostengünstiges Rasterelektronenmikroskop.
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