Gebraucht HITACHI S-4800 Type II #9311798 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
ID: 9311798
Weinlese: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
FE Tip
(4) Barium Ion pumps
BOC EDWARDS STP 301H Pump
Stage: Type 2
5 Axis motor, 6"
SE Detector:
Upper detector
(2) Lower detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
Option: CD Measurement function
Display unit:
LED Monitor, 19"
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT D530 CMT Control PC
Stage move: Joy stick control
Control panel
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 101 Keyboard
Microsoft mouse
Operating system: Window XP
Utility:
EDWARD ESDP13 Pump
Pumping hose type
Chiller
Down trans:
4F500-548 Auto transformer
Capacity: 7 kVa
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 30x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (100 V Steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (stigmator)
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse: 0 to 110 mm (continuous)
Y Traverse: 0 to 110 mm (continuous)
Z Traverse: 1.5 to 40.0 mm (continuous)
Tilt: -5° to +70°
Rotation: 360°
Specimen size: Maximum 100 mm diameter
Display unit:
Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 18.1 LCD
Option: Type 21 color CRT (1280x1024 Pixels)
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type
(Effective field of view 120x90 mm)
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
Fast: Full screen display: 6.25/7.5 Frames/s
TV: 640 x 480 pixel display: 25/30 Frames/s
NTSC or PAL Signal
Slow:
Full screen display: 1/0.9 , 4/3.3 , 20/16, 40/32 ,80/64 Frames/s
640x480 Pixels display: 0.5/0.4 , 2/1.7 , 10/8 , 20/16, 40/32 Frames/s
Photograph:
2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 Flame/s
Value: 50/60 Hz
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Data/time and working
Distance can be printed in film
Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks
Electrical image shift: 12 m (WD=8 mm)
Evacuation system:
Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels:
Specimen chamber: 7x Pa
Electron gun chamber:
IP1 1 x Pa or Better
IP2 2 x Pa or Better
IP3 7 x Pa or Better
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
(4) Compressors: Oil-less type
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Power requirements: 100V AC (±10%), Single phase, 50/60Hz
4 kVA For voltage other than 100V AC
2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten. Es ist ein SEM der nächsten Generation mit einer breiten Palette von Funktionen zur Verbesserung der Wissenserfassung und -verarbeitung. HITACHI S 4800 TYPE II verfügt über ein großes digitales Display, verbesserte Bildgebungsfunktionen und eine breite Palette von Probenmanipulationswerkzeugen, was es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Untersuchung der Struktur und Zusammensetzung von Materialien macht. Herzstück des S-4800 Typ II ist das STEM (Scanning Transmission Electron Microscope). Diese Technologie ermöglicht eine ganze Reihe von mikrostrukturellen und elementaren Analysen. Die fortschrittliche Bildgebungstechnologie, die in S 4800 TYPE II verwendet wird, liefert eine hochauflösende, topographische Karte der Probe, die mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer gescannt werden kann. Mit dieser Präzision ist es möglich, atomare Bilder von Proben zu gewinnen, die ein detailliertes Verständnis ihrer Eigenschaften und Struktur ermöglichen. HITACHI S-4800 Type II ist auch mit einer Reihe von Mustermanipulationswerkzeugen ausgestattet. Dieses beinhaltet ein Probenhaltersystem mit fein einstellbaren Bewegungs- und Abtastfunktionen sowie eine Probenstufe, die zum Wechseln von Ansichten gedreht werden kann. In Kombination mit dem MINT bieten diese Werkzeuge Forschern eine Reihe von Werkzeugen zur Bearbeitung von Proben, damit sie ihre gewünschten Ergebnisse erzielen können. Neben seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen umfasst HITACHI S 4800 TYPE II auch eine Reihe intuitiver Softwarefunktionen. Dazu gehören eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) und eine Automatisierungsfunktion, mit der eine Reihe von Verfahren automatisiert werden können. Auf diese Weise lassen sich Experimente schnell und präzise einrichten sowie Fortschritte verfolgen und Ergebnisse analysieren. S-4800 Typ II verwendet auch ein Vakuumsystem, um sicherzustellen, dass saubere Proben vertrauenswürdig analysiert werden. Dies hilft sicherzustellen, dass die Probe im optimalen Zustand für optimale Abbildungsergebnisse bleibt. Insgesamt ist S 4800 TYPE II ein leistungsstarkes Werkzeug für die Elektronenmikroskopie. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten ist es ein zuverlässiges Werkzeug für die Materialforschung und -analyse.
Es liegen noch keine Bewertungen vor