Gebraucht HITACHI S-4800 Type II #9381462 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Type II ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop, das von der HITACHI High Technologies Corporation entwickelt und vertrieben wird. Diese Art von Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist in der Lage, gut definierte, hochauflösende Bilder der oberen Oberflächen von Feststoffen zu erzeugen. Es erfasst auch Sekundärelektronen, die aus der Probe erzeugt werden, indem es mit einem Elektronenstrahl bombardiert wird. Diese sogenannte Elektronenrückstreuung (EBSD) ist eine Schlüsseltechnik zur Charakterisierung der kristallographischen Struktur eines Materials. HITACHI S 4800 TYPE II ist mit einer Emissionsquelle mit geringer Punktgröße ausgestattet, die eine hohe Stromdichte von nA/V und eine niedrige Beschleunigungsspannung ermöglicht. Die Kombination aus Normal- und Niederspannungsbetrieb bietet hochauflösende Bildgebung und EBSD bei niedrigeren Vergrößerungen. Der vielseitige Arbeitsbereich von 1,0 nm bis 40 nm ermöglicht es, Bilder mit beeindruckenden Detailgenauigkeiten zu erstellen. S-4800 Typ II bietet mehrere einzigartige Merkmale, darunter die kontrastarme Bildverarbeitung, die automatische Filmdickenkorrektur, die automatische Elektronenstrahlkalibrierung und seine Kristallographie-Analyseausrüstung. Die kontrastarme Bildverarbeitung eignet sich insbesondere zur Gewinnung klarer Bilder von kontrastarmen Materialien, während die automatische Filmdickenkorrektur die Dicke einer Probe genau berechnet. Die automatische Elektronenstrahlkalibrierung trägt zur Verbesserung der Leistung bei, während das Kristallographie-Analysesystem es einfach macht, die kristallographischen Parameter aus SEM-Bildern zu bestimmen. Darüber hinaus ist S 4800 TYPE II mit einer hochempfindlichen HDR-Kamera ausgestattet, die ein verbessertes Verfahren zur Untersuchung schwach fluoreszierender Proben bietet. Dadurch können auch bei geringen Vergrößerungen sehr detaillierte Bilder von Proben mit schwachen Signalen erzeugt werden. Außerdem lässt der niedrige kV-Strahlstrom die Einheit schwache Signale besser erfassen, wodurch die Anzahl der in einem Bild aufnehmbaren Rauschartefakte reduziert wird. Insgesamt ist HITACHI S-4800 Type II ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop mit einer brillanten Optikmaschine, die es ermöglicht, detaillierte Bilder und EBSD-Daten aus verschiedenen Materialien zu erstellen. Seine Kombination aus hoher nA/V-Stromdichte, niedriger Beschleunigungsspannung und niedrigem kV-Strahlstrom ermöglicht es, ausgezeichnete Bilder aufzunehmen, während seine zahlreichen spezialisierten Funktionen es einfach machen, die Daten zu analysieren und zu interpretieren. Als solches ist es ein großartiges Werkzeug für Werkstoffwissenschaftler und Ingenieure, um die Strukturen und Zusammensetzungen von festen Materialien besser zu untersuchen.