Gebraucht HITACHI S-4800 Type II #9389453 zu verkaufen

ID: 9389453
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" Secondary electron image resolution: 1.0 nm (15 kV, WD: 4 mm) Deceleration mode: 1.4 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Normal mode: 2.0 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Magnification: LM Mode: 20x ~ 2,000x HM Mode: 100x ~ 800,000x Specimen stage: Stage motorization: 5-Axis motorized Type II: X: 0 mm - 110 mm Y: 0 mm - 110 mm Z: 1.5 mm - 40 mm T: -5 mm - +70°C R: 360° Includes: Keypad Trackball BSE STEM EDX Chamber camera Operating system: Windows XP 2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine hervorragende Leistung und Auflösung und extreme Vielseitigkeit bekannt ist. Es ist ein Feldemissionstyp SEM, was bedeutet, dass es eine Elektronenkanone verwendet, die einen kleinen Elektronenstrahl mit einem Wolframfaden emittiert, der bei hohem Strom angetrieben wird. HITACHI S 4800 TYPE II ist in der Lage, sowohl im Nieder- als auch im Hochvakuum-Modus zu arbeiten, wodurch unbeschichtete Proben abgebildet werden können. Dadurch eignet es sich besonders gut für die Abbildung organischer und biologischer Proben. Es hat auch Niederspannungsbetrieb von 0,15 bis 3,00 keV und erweitert den Bereich der möglichen Abbildungsziele. Das SEM ist mit einem hybriden Sekundärelektronendetektor zur Erfassung von Sekundärelektronen ausgestattet. Dies sind die Elektronen, die entstehen, wenn der primäre Elektronenstrahl mit der Oberfläche der Probe wechselwirkt. Es kann für die Erforschung und Analyse einer breiten Palette von Proben von Halbleitern zu Biomaterialien betrieben werden. S-4800 Typ II bietet auch variabel geformte Strahltechnik oder V-SEM. Dadurch kann der Anwender Form und Größe des Primärstrahls steuern, was die Auflösung im Vergleich zu typischen SEMs um das 15-fache verbessert. Das V-SEM ermöglicht eine größere Flexibilität in der Analyse und höhere Geschwindigkeit für bestimmte Arten der Bildgebung. Es ist sowohl mit manuellen als auch automatisierten Stufen ausgestattet und kann mit einem neu entwickelten Probenzellen-Bewegungsregler eine automatische Zellabbildung durchführen. Der Controller kann die Probe bewegen, während das SEM in Betrieb ist, so dass ein viel größerer Umfang an automatisierten Beispielbildern aufgenommen werden kann. S 4800 TYP II ist für optimierte Probenbeobachtung und -vorbereitung ausgelegt. Es ist mit einem In-Objektiv oder Umwelt-MINT-Detektor ausgestattet, so dass es beispiellose Abbildung von Proben in niedrigen und hohen Vakuum-Modi zur Verfügung stellen. Es ist in der Lage, Elemente mit einer Ordnungszahl größer als 5 zu detektieren. HITACHI S-4800 Type II ist ein sehr vielseitiges und fähiges SEM, das für die optimierte Forschung und Analyse einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Die variabel geformte Strahltechnologie, der Niederspannungsbetrieb sowie In-Linsen- und Umwelt-MINT-Detektoren machen es ideal für die Abbildung von biologischen und organischen Proben.
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