Gebraucht HITACHI S-4800 #293596399 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop ist eines der fortschrittlichsten Instrumente für den Einsatz in der Material- und Life-Science-Forschung. Es kombiniert beispiellose Leistungsstufen, Flexibilität und Präzision mit einer großen Benutzerfreundlichkeit. Dabei handelt es sich um ein TFE-SEM (turbomolekulares Feld-Emission-Rasterelektronenmikroskop), das eine hochauflösende Abbildung und Spektroskopie von Materialien auf Nanometerebene ermöglicht. Die große 5kV Ionenquelle von HITACHI S 4800 bietet eine leistungsstarke Quelle hochenergetischer Elektronen, die komplexe Strukturen durchdringen können und ein größeres Sichtfeld als die meisten ähnlichen Mikroskope bieten. Die kinetische Energie der Elektronen kann auch schnell variiert werden, was bildgebende und analytische Oberflächeninformationen bei unterschiedlichen Vergrößerungen und Auflösungen ermöglicht. Die Ionenquelle ist mit einer Hochleistungs-Elektronenoptiksäule gekoppelt, die aus einer genauen elektrostatischen Fokussierlinse und einer anomaliekorrigierten Kondensatorlinse besteht. Diese Komponenten erzeugen einen extrem stabilen und effizienten Elektronenstrahl, um die Nanostrukturen zu erreichen. Neben der Elektronenoptik verfügt S-4800 auch über eine automatisierte Probenstufe mit einem effizienten, speziell entwickelten Probenhandhabungsgerät. Dies ermöglicht eine schnelle und präzise Probenmontage und Positionierung, so dass der Bediener in einem Bruchteil der üblicherweise benötigten Zeit hochwertige Bilder erhalten kann. Die Bühne verfügt zudem über eine Vielzahl von motorisierten Funktionen, mit denen die Probenstruktur am Nanoskala vollautomatisch bestimmt werden kann. Für die Bildgebung verwendet S 4800 mehrere fortschrittliche Detektoren, die von einem Standard-Sekundärelektronendetektor bis zu einem rückgestreuten Elektronen- und Röntgendetektor reichen. Dies ermöglicht es Benutzern, verschiedene Arten von Proben, wie Metalle, Legierungen, Keramiken und ihre Bestandteile, mit verschiedenen Arten von Bildgebung abzubilden. Es bietet auch die Flexibilität, verschiedene Oberflächen- und Untergrundprozesse zu analysieren und detaillierte Mikrostrukturanalysen von Materialien zu erhalten. Abschließend ist HITACHI S-4800 ein leistungsfähiges, hochpräzises und flexibles Rasterelektronenmikroskop, das Forschern und Ingenieuren viele Informationen über die nanoskalige Struktur und Zusammensetzung von Materialien liefern kann. Es ist in der Lage, hochauflösende und kontrastreiche Bilder mit bunten visuellen Eigenschaften zu erzeugen, die für die Analyse typischer Nanomaterialien bei hohen Vergrößerungen und Winkeln nützlich sind. Die automatisierte Probenstufe reduziert die Montage- und Positionierzeit der Proben erheblich und ermöglicht schnellere Ergebnisse. Die vielseitigen Detektoren decken eine Reihe von Anwendungen für die Bildgebung und Analyse ab.