Gebraucht HITACHI S-4800 #293610187 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochentwickeltes wissenschaftliches Instrument zur hochauflösenden Abbildung von Proben auf nanoskaliger Ebene. Es ist ein wichtiges Werkzeug für die Materialwissenschaft und physikalische Forschung. HITACHI S 4800 ist in der Lage, detaillierte, hochvergrößerte Bilder von Oberflächen und Ultrasondenspektren verschiedener Elemente in der Probe zu erzeugen. Dieses SEM hat eine Auflösung von bis zu 1,5 Nanometern und kann eine Vergrößerung von 10,000X erreichen. Es können S-4800 nicht nur hochauflösende Bilder erhalten, sondern auch Elektronenbeugungen und EDX-Messungen (Energy Dispersive Röntgenanalyse) durchführen. S 4800 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die stabile und zuverlässige Elektronenstrahlemissionen ermöglicht. Diese FEG ermöglicht niedrigere Beschleunigungsspannungen, was zu geringeren Elektronenstrahleffekten und weniger Strahlungsschäden an empfindlichen Proben führt. HITACHI S-4800 verfügt über automatisierte Probenliefersysteme wie ein Hochvakuum (HV) -Kassettensystem, das einen effizienten Wechsel und die Untersuchung von bis zu fünf Proben fördert. Darüber hinaus werden Probleme wie Umwelt- und Anwendersicherheit bei den automatisierten Musterliefersystemen aufgrund ihres schnellen und einfachen Betriebsprozesses berücksichtigt. HITACHI S 4800 ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die eine Vielzahl von Messtechniken ermöglichen. Zu diesen Detektoren gehören Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und Signalelektron (SED-Detektoren). Die SE- und BSE-Detektoren dienen zur bildgebenden und kompositorischen Analyse der Probe, während der SED-Detektor zur Gewinnung von Hochvergrößerungsbildern oder zur Messung von Oberflächenmerkmalen oder Nanostrukturen dient. Obwohl S-4800 weitgehend als Werkzeug für bildgebende und kompositorische Analysen konzipiert ist, sind seine spektroskopischen Fähigkeiten das, was es so vielseitig macht. Durch den Einsatz eines Energiefilters kann S 4800 eine Reihe spektroskopischer Messungen wie Röntgenmikroanalyse (XMA) und Röntgenfluoreszenz (XRF) durchführen. Durch seine verschiedenen Detektoren und Spektroskopie-Fähigkeiten ist HITACHI S-4800 in der Lage, präzise und erweiterte Bilder zusammen mit qualitativen kompositorischen Daten zu erhalten. Alles in allem ist HITACHI S 4800 eine ausgezeichnete Wahl für Anwender, die ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop suchen. Es verfügt über ausgezeichnete bildgebende Fähigkeiten, automatisierte Probenliefersysteme und Spektroskopierungstechniken, was es zu einem effektiven Werkzeug in jedem Forschungslabor macht.