Gebraucht HITACHI S-4800 #9184387 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ermöglicht dem Anwender, die morphologischen Eigenschaften von Oberflächen, die Größe und Form von Partikeln und die innere Struktur von Verbindungen zu analysieren. Es ist nützlich für die Materialwissenschaft und in vielen anderen Bereichen. HITACHI S 4800 verwendet eine Elektronensäule, die aus einer ionenoptischen Säule, einer Kondensorlinse, einer differentiellen Pumpkammer und einer magnetischen Tauchlinse besteht. Die Säule ermöglicht eine hochauflösende Abbildung und einen weiten Bereich von hoher und niedriger Beschleunigungsspannung. Darüber hinaus verfügt es über einen Abberationskorrektor (AST), der hochwertige Bilder mit reduzierter Aberration liefert. S-4800 weist einen Sekundärelektronendetektor (SED), einen rückgestreuten Elektronendetektor (BSED) und einen Kathodolumineszenzdetektor (CL) auf. Die Detektoren ermöglichen es Benutzern, Auflösung, Empfindlichkeit und Kontrast zu verbessern. Sie ermöglichen auch Energie- und Elementaranalysen. Der CL-Detektor kann schwache Lumineszenzlichteffekte verschiedener Materialien erkennen, um die innere Mikrostruktur der Probe abzubilden. S 4800 ist auch mit einer Möglichkeit ausgestattet, die Dickeneigenschaften von isolierenden Folien zu messen. Dies ermöglicht die Analyse solcher Filmsequenzen ohne Demontage. Darüber hinaus bietet die integrierte Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) eine elementare Abbildung der Probenoberfläche. Zusätzlich eignet sich HITACHI S-4800 zur automatisierten Probenbeobachtung. Ein automatisierter XY-Bühnenscan und eine automatisierte Stufenkorrektur stehen zur Verfügung. Die stabile automatisierte Stufe ermöglicht es Benutzern zu beobachten, aus welcher Richtung und wo die Probe automatisch beobachtet wurde. Insgesamt ist HITACHI S 4800 ein genaues und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von Merkmalen und Funktionen für die Materialwissenschaften und viele andere Bereiche bietet. Es ist ein wesentliches Werkzeug für detaillierte Beobachtungen und die Analyse verschiedener Eigenschaften auf Nanometerebene.