Gebraucht HITACHI S-4800 #9193432 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit drei Detektoren, die Bilder verschiedener Oberflächen mit hoher Auflösung aufnehmen können. Das Mikroskop nutzt eine einzigartige Kombination von Elektronenoptiken, die ein breites Sichtfeld und eine hohe Flexibilität bieten. Das System umfasst ein Energiefilter, eine Stufe mit motorisiertem x y, Antrieb, eine Schnittstelle, die Fernbedienung und eine Elektronenenergiepistole ermöglicht. Die motorisierte Bühne ermöglicht es dem Benutzer, das Exemplar für eine optimale Sicht leicht zu bewegen. Es bietet Platz für verschiedene Probengrößen bis 12 cm Durchmesser und bis zu 25 cm Höhe. Zusätzlich kann der Benutzer auch Probenhalter auf die Bühne stellen, so dass eine große Fläche beobachtet werden kann. Die Probe wird in die Vakuumkammer gelegt und mit einem Elektronenstrahl beleuchtet. Die mit der Probe wechselwirkenden Primärelektronen erzeugen Sekundärelektronen und andere Arten von Signalen. Der Scanbereich, den HITACHI S 4800 erwerben kann, beträgt 2,5 cm x 2,5 cm und die Auflösung kann von 0,5 Nanometer bis 5 Mikrometer reichen. Das Mikroskop weist außerdem eine automatische Funktion zur Einstellung von Arbeitsabstand, Blende, Vergrößerung und Feldstrom auf. Es enthält auch drei Detektoren für sekundäre Elektronenbildgebung und rückstreuende Elektronenbildgebung. Der Sekundärelektronendetektor ermöglicht es dem Benutzer, Oberflächenmerkmale und nichtleitende Proben abzubilden. Der Rückstreudetektor ermöglicht es dem Anwender, eine Vielzahl von Materialien zu beobachten, darunter Metalle, Keramik und Halbleiter. Dieser Detektor weist auch einen polarisierten Strahlmodus auf, der es dem Benutzer ermöglicht, mit Kristallstrukturen und Oxiden der Materialien verbundene Defekte zu beobachten. Neben der Bildgebung verfügt S-4800 auch über zwei optionale Detektoren, die eine Elementanalyse und chemische Bildgebung ermöglichen. Mit dem Zusatz des optionalen Detektors ist es möglich, die chemische Zusammensetzung und die elementare Abbildung von Proben zu beobachten. Das System enthält auch fortschrittliche Software zur quantitativen Analyse der verschiedenen Signale, die vom Detektor erzeugt werden. Insgesamt ist S 4800 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop. Es stellt Forschern die Werkzeuge zur Verfügung, um Oberflächen und Strukturen mit hoher Auflösung zu beobachten sowie verschiedene Signale für die elementare und chemische Analyse zu messen und zu analysieren.