Gebraucht HITACHI S-4800 #9209753 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 9209753
Weinlese: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With HORIBA EDX system
Workstation: HP DC7100MT
Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Stigmator: Octopole electromagnetic
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
UPS
HITACHI Air compressor
Operating system: Windows XP
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x)
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x)
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator)
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous)
Tilt: -5° to +70°
Rotation: 360° (Continuous)
Specimen size: Max 100 mm (Diameter)
(Airlock type specimen exchange)
Display unit:
Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 18.1 LCD
Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels)
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type
(Effective field of view 120 x 90 mm)
Full screen: 1280 x 960 Pixels
Reduced area:
640 x 480 Pixels
320 x 240 Pixels
Dual Image: 640 x 480 Pixels
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s)
Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s)
Slow:
(Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s)
(640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s)
Photograph: 2560 x 1920 Pixels
Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s
Value: 50 Hz / 60 Hz
TV: NTSC or PAL Signal
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Data / Time
Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks
Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa
10-7 Pa in electron gun chamber
10-4 Pa in specimen chamber
Electron gun chamber:
IP1 1 x Pa or better
IP2 2 x Pa or better
IP3 7 x Pa or better
Vacuum pumps: ULVAC GLD-136
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
Protection devices:
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: 100 mm Diameter
Stage motion:
3 Axis motorized
X/Y: 0 - 50 mm
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
UPS Unit
Chiller
FE-SEM Rotary pump
Main body:
Stage controller (ROM PCB)
EVAC Controller (ROM PCB)
(3) Ion pumps
SE Detector
Multi-aperture
Gun head cap
STP301H TMP Pump
STP301H TMP Controller
Solenoid valve assy
PC
Hard Disk Drive (HDD)
Operating system: Windows XP
HV Controller
Gun head unit
Case
Operation unit:
LCD Monitor
Keyboard
Mouse
Operation panel
Stage control trackball
ETC:
Ion coater rotary pump
LN2
UPS
EDS
Control HUB
EDS Controller
Operating system: Windows XP
Baking tool
Ion coater
HP Office Jet Pro C8194A Printer
Manuals included
4 kVA For voltage other than 100V AC
Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz
2008 vintage.
HITACHI S-4800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl hervorragende Bildqualität als auch vielseitige Analysefähigkeiten bietet. Dieses High-End-Instrument ist für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen wie Material- und Life-Science-Untersuchungen, Probenanalysen, Fehleranalysen, Querschnitte und Oberflächenmessungen konzipiert. HITACHI S 4800 ist mit einem Wolfram-Filament-Elektronenemitter, variablem Druck (VP) und variablem Druck variable Temperatur (VPVT) Funktionalitäten ausgestattet. Die VP- und VPVT-Modi ermöglichen die Betrachtung von Proben bei unterschiedlichen Druckniveaus und Temperaturen, was tiefere und genauere Charakterisierungen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine große erfasste Fläche von 140mm Durchmesser und hat eine hohe Auflösung, bis zu 1 nm Punktauflösung im Sekundärelektronenbild (SEI) -Modus. Darüber hinaus bietet der Advanced Low Vacuum Mode (ALV) die Möglichkeit, SEM Image auf nichtleitenden Materialien zu detektieren. Das flexible Design von S-4800 ermöglicht es, es für eine Vielzahl von Techniken, wie rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung, EDX Elementaranalyse und WDS für qualitative und quantitative Elementaranalyse verwendet werden. Darüber hinaus bieten die Stereo- und 3D-Bildgebungsfunktionen eine umfassende Charakterisierung von Proben. Die fortschrittliche Bildgebung umfasst Live-und Monochrom-Displays, sowie digitale Bildmesswerkzeuge, um präzise Messungen und Bezeichnungen der inneren Struktur und Oberflächeneigenschaften zu ermöglichen. Darüber hinaus ermöglichen die große Probenkammer und die hohen Hubstufen eine effiziente Probenhandhabung und -manipulation. S 4800 verfügt auch über eine breite Palette von Zubehör, wie eine Reihe von fortschrittlichen Detektoren und Elektronensäulen-Upgrades und ein automatisches Bildgebungssystem, das die automatische Erfassung von Bildern ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt die fortschrittliche Energiefilterung die Untersuchung energiedispersiver Röntgensignale. Insgesamt ist HITACHI S-4800 ein leistungsstarkes High-End-SEM, das den Anforderungen verschiedener Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht wird. Es bietet ausgezeichnete Bildqualität und erweiterte Analysefunktionen durch sein vielseitiges Design, so dass Benutzer eine genaue und genaue Ansicht des zu analysierenden Objekts erhalten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor