Gebraucht HITACHI S-4800 #9209753 zu verkaufen

ID: 9209753
Weinlese: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With HORIBA EDX system Workstation: HP DC7100MT Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode Stigmator: Octopole electromagnetic EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller UPS HITACHI Air compressor Operating system: Windows XP Resolution: Accelerating voltage: 15 kV Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x) Accelerating voltage: 1 kV Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x) Magnification: High magnification mode: 100x to 800,000x Low magnification mode: 20x to 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps) Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column) Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator) Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics Specimen stage: X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous) Tilt: -5° to +70° Rotation: 360° (Continuous) Specimen size: Max 100 mm (Diameter) (Airlock type specimen exchange) Display unit: Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds) Viewing monitor: Type 18.1 LCD Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels) Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm) Full screen: 1280 x 960 Pixels Reduced area: 640 x 480 Pixels 320 x 240 Pixels Dual Image: 640 x 480 Pixels Scanning modes: Normal scan Reduced area scan Line scan Spot analysis Average concentration analysis Split / Dual magnification Scanning speeds: TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s) Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s) Slow: (Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s) (640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s) Photograph: 2560 x 1920 Pixels Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s Value: 50 Hz / 60 Hz TV: NTSC or PAL Signal Signal processing modes: Automatic brightness control Gamma control Automatic focus Automatic stigmator Automatic data display: Image number Accelerating voltage Magnification Micron bar Micron value Data / Time Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm) Evacuation system: System type: Fully automatic pneumatic-valve system Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa 10-7 Pa in electron gun chamber 10-4 Pa in specimen chamber Electron gun chamber: IP1 1 x Pa or better IP2 2 x Pa or better IP3 7 x Pa or better Vacuum pumps: ULVAC GLD-136 Electron optical system: (3) Ion pumps Specimen chamber: Turbo molecular pump Oil rotary pump Protection devices: Warning devices: Power failure Cooling-water interruption Inadequate vacuum Secondary electron image resolution: 1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm 1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm Sample chamber: Size: Type I stage Max sample size: 100 mm Diameter Stage motion: 3 Axis motorized X/Y: 0 - 50 mm Signal selection: SE Signal X-Ray signal AUX Signal UPS Unit Chiller FE-SEM Rotary pump Main body: Stage controller (ROM PCB) EVAC Controller (ROM PCB) (3) Ion pumps SE Detector Multi-aperture Gun head cap STP301H TMP Pump STP301H TMP Controller Solenoid valve assy PC Hard Disk Drive (HDD) Operating system: Windows XP HV Controller Gun head unit Case Operation unit: LCD Monitor Keyboard Mouse Operation panel Stage control trackball ETC: Ion coater rotary pump LN2 UPS EDS Control HUB EDS Controller Operating system: Windows XP Baking tool Ion coater HP Office Jet Pro C8194A Printer Manuals included 4 kVA For voltage other than 100V AC Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz 2008 vintage.
HITACHI S-4800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl hervorragende Bildqualität als auch vielseitige Analysefähigkeiten bietet. Dieses High-End-Instrument ist für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen wie Material- und Life-Science-Untersuchungen, Probenanalysen, Fehleranalysen, Querschnitte und Oberflächenmessungen konzipiert. HITACHI S 4800 ist mit einem Wolfram-Filament-Elektronenemitter, variablem Druck (VP) und variablem Druck variable Temperatur (VPVT) Funktionalitäten ausgestattet. Die VP- und VPVT-Modi ermöglichen die Betrachtung von Proben bei unterschiedlichen Druckniveaus und Temperaturen, was tiefere und genauere Charakterisierungen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine große erfasste Fläche von 140mm Durchmesser und hat eine hohe Auflösung, bis zu 1 nm Punktauflösung im Sekundärelektronenbild (SEI) -Modus. Darüber hinaus bietet der Advanced Low Vacuum Mode (ALV) die Möglichkeit, SEM Image auf nichtleitenden Materialien zu detektieren. Das flexible Design von S-4800 ermöglicht es, es für eine Vielzahl von Techniken, wie rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung, EDX Elementaranalyse und WDS für qualitative und quantitative Elementaranalyse verwendet werden. Darüber hinaus bieten die Stereo- und 3D-Bildgebungsfunktionen eine umfassende Charakterisierung von Proben. Die fortschrittliche Bildgebung umfasst Live-und Monochrom-Displays, sowie digitale Bildmesswerkzeuge, um präzise Messungen und Bezeichnungen der inneren Struktur und Oberflächeneigenschaften zu ermöglichen. Darüber hinaus ermöglichen die große Probenkammer und die hohen Hubstufen eine effiziente Probenhandhabung und -manipulation. S 4800 verfügt auch über eine breite Palette von Zubehör, wie eine Reihe von fortschrittlichen Detektoren und Elektronensäulen-Upgrades und ein automatisches Bildgebungssystem, das die automatische Erfassung von Bildern ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt die fortschrittliche Energiefilterung die Untersuchung energiedispersiver Röntgensignale. Insgesamt ist HITACHI S-4800 ein leistungsstarkes High-End-SEM, das den Anforderungen verschiedener Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht wird. Es bietet ausgezeichnete Bildqualität und erweiterte Analysefunktionen durch sein vielseitiges Design, so dass Benutzer eine genaue und genaue Ansicht des zu analysierenden Objekts erhalten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor