Gebraucht HITACHI S-4800 #9213997 zu verkaufen

Das HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges und vielseitiges Mikroskop, das sich für eine Vielzahl von Anwendungen zur Charakterisierung von Materialien eignet. HITACHI S 4800 bietet eine hervorragende Auflösung und Bildqualität durch die Verwendung eines dedizierten Ultrahochvakuums und eines neu entwickelten Szintillators. S-4800 verwendet eine Schottky-Feldemissionselektronenkanone, die Elektronen mit überlegener Helligkeit und Abstrahldivergenz erzeugt. Der Strahlstrom wird über längere Zeiträume auf hohem Niveau gehalten und erzeugt auch bei großen Vergrößerungen hochauflösende Bilder. Die Elektronenkanone ist mit einem neu konstruierten Szintillator-Typ gekoppelt, der ein um ein Vielfaches höheres Signal-Rausch-Verhältnis als herkömmliche Szintillatoren erzeugt. S 4800 ist auch mit einem Sekundärelektronendetektor ausgestattet. Dadurch entstehen höher definierte Sekundärelektronenbilder als mit einem zusätzlichen Detektor auf der Rückseite der Probenstufe erreicht werden können. Es eignet sich auch für eine Reihe von Abbildungsbedingungen und kann sogar mit niedriger Beschleunigungsspannung oder hoher Beschleunigungsspannung verwendet werden. Um eine stabile Leistung bei hohen Vergrößerungen zu gewährleisten, ist HITACHI S-4800 mit einer Umweltkammer ausgestattet, die den Einfluss äußerer Vibrationen minimiert. Durch die Niedertemperaturbetriebsart können niederenergetische Sekundärelektronen ohne nennenswerte thermische Drift detektiert werden. HITACHI S 4800 hat auch eine breite Palette von Vakuumniveaus von Ultrahochvakuum von 1 x 10-6 Torr bis zu einem Hochvakuum von 4 x 10-2 Torr, was eine Vielzahl von Probenvorbereitungs-, Beobachtungs- und Analysetechniken ermöglicht. Ein automatisierter Probenwechsler und ein High-Level-Kontrollsystem stehen Forschern zur Verfügung, die eine häufige Nutzung benötigen und mit mehreren Proben arbeiten. Das Steuerungssystem ermöglicht eine automatisierte Bedienung und Datenanalyse, die eine höhere Forschungseffizienz ermöglicht. S-4800 ist ein leistungsstarkes, vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Reihe von Werkstoffcharakterisierungsanwendungen eignet. Dank seiner hervorragenden Erkennungs- und Bildgebungsfunktionen ist es eine ausgezeichnete Wahl für Forscher, die Bilder und Daten von höchster Qualität benötigen.