Gebraucht HITACHI S-4800 #9254505 zu verkaufen
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ID: 9254505
Weinlese: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Declaration mode 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x - 2,000x
HM Mode: 100x - 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stages electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4"
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50 mm
Rotation: 360°
Display system:
Image display:
Full screen: 1,280 x 960 Pixels
Reduced area: 640 x 480 Pixels
Reduced area: 320 x 240 Pixels
(2) Dual images: 640 x 480 Pixels
Scanning speed:
TV (25/30 x 2 frame/s)
Fast (6.25/7.5 x 2 frame/s)
Slow (1/4/20/40/80 s/frame / .5/2/10/20/40 s/frame)
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
10^-7 Pa in electron gun chamber
10^-4 Pa in specimen chamber
(3) Ion pumps
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
UPS
ULVAC GLD-136 Vacuum pump
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
Operation manuals included
2008 vintage.
HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument, das zwei bildgebende Modalitäten - Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronen - kombiniert, um hochauflösende Bilder einer Probenoberfläche zu erzeugen. HITACHI S 4800 ist mit einer breiten Palette von Funktionen und modernsten Technologien ausgestattet, einschließlich eines großen Arbeitsabstandes und fortschrittlicher Off-Axis-Elektronenoptik. S-4800 bietet eine hohe Auflösung und Vergrößerung von weniger als 1 nm bis über 500 nm und eignet sich somit für ein breites Anwendungsspektrum. Das System ist mit den neuesten Off-Axis-Objektiven ausgestattet, die einen großen Arbeitsabstand und die Möglichkeit der Übertragung von bis zu 10kV Elektronen ermöglichen. Es hat auch eine automatische Fokussierungsfähigkeit und kann gemusterte Bilder mit hohem Kontrast projizieren. Das erweiterbare Kammervolumen und die flexible Stufe ermöglichen die Untersuchung von größeren und dickeren Proben bis maximal 200 mm. Die Probenstufe kann innerhalb der Kammer bis zu 810 mm geöffnet werden, so dass größere und dickere Proben leicht beobachtet werden können. S 4800 verfügt über eine leistungsstarke Feldemissionsquelle (FE-SEM) mit einer einzigartigen Röntgenquelle, die die gleichzeitige Erzeugung von Röntgensignalen aus Elektronen und Ionen ermöglicht. Dieses Merkmal ist vorteilhaft für die qualitative und quantitative Charakterisierung der Probenoberfläche. HITACHI S-4800 ist für maximale Leistung ausgelegt und ermöglicht geräuscharme und hochauflösende Bildgebung. Die Elektronik auf der Maschine wurde für hohe Stabilität, zuverlässige Leistung und zuverlässige Ergebnisse konzipiert. HITACHI S 4800 Tool ist auch mit einem fortschrittlichen High-Speed-Imaging-Asset ausgestattet, das es dem Benutzer ermöglicht, Bilder mit hoher Bildrate zu erfassen. Das Modell verfügt auch über eine vollständige Palette von bildgebenden Werkzeugen für die Probenanalyse, wie Oberflächenmapping, digitale Bildmontagen, 3D-Bildgebung, Kornerkennung, Objektidentifizierung, Partikelzählung, Oberflächenmessungen und Dickenmessung. Schließlich macht S-4800 benutzerfreundliche Ausrüstung es einfach zu navigieren und zu steuern. Eine intuitive Touchscreen-Oberfläche und eine umfassende Bedienungsanleitung machen S 4800 zur idealen SEM-Lösung.
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