Gebraucht HITACHI S-4800 #9255305 zu verkaufen

ID: 9255305
Weinlese: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With control bench Imaging: Topographic contrast secondary electron (SE) Atomic number contrast back-scattered electron (BSE) Control panel included HEWLETT-PACKARD / HP Computer NORAM System 7 HUBER Minichiller-H1 Advanced Vacuum pump MS NOISE NRVP-B 2004 vintage.
HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes, einfach zu bedienendes Analysewerkzeug, das Sekundärelektronen verwendet, um eine schnelle und genaue Oberflächenanalyse in einer Vielzahl von Materialien zu ermöglichen. Dieses SEM beinhaltet eine Elektronensäule mit variablem Druck, die eine Vielzahl von Umgebungsbedingungen ermöglicht und die Bildgebung und Analyse von Proben ohne die Notwendigkeit der Probenvorbereitung oder spezialisierter Artikel ermöglicht. Seine Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit machen es zu einem idealen Instrument für eine Reihe von Forschungseinrichtungen, akademischen Einrichtungen und industriellen Anwendungen. HITACHI S 4800 verfügt über eine Elektronenquelle mit einer hohen Helligkeit Wolframquelle in der Lage, bis zu 20kV Beschleunigungsspannung. Diese Quelle reduziert inhärent den Strom der Strahlplatten, was zu einem schärferen Bild mit erhöhter Auflösung und erhöhtem Kontrast führt. Die Elektronenkanone ist auf einem fünfachsigen Manipulator montiert, der die Positionierflexibilität bei der Durchführung der Bildgebung erhöht. S-4800 SEM enthält eine fortschrittliche Niedervakuum-Elektronensäule, die zwischen 10−3 und 10−8 mbar betrieben werden kann. Dieser Druckbereich ermöglicht die Untersuchung der Umgebungsoberflächenbedingungen ohne Probenvorbereitung. Die Objektivlinse hat eine elektronenoptische Auflösung von 24 pm unter ultrahochen Vakuumbedingungen und bis zu 60 pm unter milden Umweltbedingungen, während das Detektorsystem in der Lage ist, niederenergetische Elektronen aus einem Bereich von Sonden zu detektieren. In Bezug auf die bildgebende Elektronik verfügt S 4800 über eine Vielzahl von Funktionen. Dazu gehören ein selbstfokussierendes Objektiv, das Änderungen an der Probenoberfläche oder der geometrischen Form kompensiert, und eine automatische Einstellung der Einstellungen für eine verbesserte Bildqualität. Das Gerät verfügt auch über ein Software-Paket zur Bildverarbeitung, um Daten zu verwalten und Bilder zu erstellen. In puncto Performance ist HITACHI S-4800 in der Lage, unter verschiedenen Umweltbedingungen hochwertige Bilder mit minimalen Artefakten zu produzieren. Es bietet auch das Potential der räumlichen Auflösung von bis zu 3 nm im MINT-Modus. Außerdem wurde im normalen Abtastmodus die Abtastrate um bis zu 30% des Üblichen erhöht. In Bezug auf Sicherheit und Benutzerfreundlichkeit kommt HITACHI S 4800 mit einer speziellen Partikelabschirmung, die einschaltet, wenn der Strahl eingeschaltet ist, um sicherzustellen, dass der Benutzer nicht dem Elektronenstrom ausgesetzt ist. S-4800 bietet auch eine Taste AutoEase-Betrieb, so dass der Benutzer einfach Emissionsstrom anpassen, beschleunigen Spannung, Vergrößerung, Bildhelligkeit und Fokus in jeder Reihenfolge.
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