Gebraucht HITACHI S-4800 #9257136 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die fortgeschrittene Bildgebung und Analyse von Materialien und Strukturen entwickelt wurde. Es verwendet eine Reihe von Elektronenquellen und Linsen sowie hochempfindliche Detektoren, um eine hochauflösende Bildgebung und Charakterisierung zu erreichen. HITACHI S 4800 ist mit einem Sekundärelektronendetektor, einem rückgestreuten Elektronendetektor und einem Everhart-Thornley-Detektor zur Gewinnung entsprechender sekundärer bildgebender Informationen ausgestattet. S-4800 bietet fortschrittliche bildgebende Funktionen wie halbautomatische fokussierte Ionenstrahl-Bildgebung (FIB), Elektronenstrahl-Lithographie und eine Reihe von Elektronenenergieverlust-Spektroskopie (EELS) und Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) Anwendungen. S 4800 verfügt auch über eine eingebaute Probentransferkammer, mit der Proben schnell und einfach ausgetauscht werden können. HITACHI S-4800 bietet eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, Backscatter-Bildgebung, hochauflösender Bildgebung und breitflächiger Bildgebung. Es verfügt außerdem über ein hochauflösendes Analysesystem, das zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) sowie zur Elementar- und Phasenkartierung in der Lage ist. Das eingebaute Bildverarbeitungssystem ist benutzerfreundlich und bietet eine Vielzahl von Funktionen wie Bildmessung, Phasenumkehr und Filteroptionen. HITACHI S 4800 verfügt auch über fortschrittliche Software für automatisierte Bildgebung, die die Scangeschwindigkeit, Datenerfassungsrate und Genauigkeit verbessert. S-4800 ist für eine Vielzahl von Anwendern konzipiert, sowohl in der Forschung als auch in der Industrie. Es ist einfach zu bedienen und kann auf verschiedene Weise angepasst werden. S 4800 bietet eine Reihe von Funktionen, darunter eine Vielzahl von Vakuumsystemen und Probenhaltern, einen In-Column-Fokus-Detektor und einen Elektronenstrahlunterdrücker. Es bietet auch eine Reihe von Spannungseinstellungen für die Feinabbildung und eine breite Palette von Betriebsparametern für die Anpassung von elektromagnetischen Linsen und anderen Komponenten mit präziser Auflösung. Insgesamt ist das HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches Instrument zur Bildgebung, Charakterisierung und Analyse von Materialien und Strukturen. Es kann verwendet werden, um flache oder gekrümmte Flächen sowohl in 2D- als auch in 3D-Anwendungen zu charakterisieren. Es kombiniert eine Reihe von Elektronenquellen, Linsen und Detektoren, um hochauflösende Bildgebungsfunktionen bereitzustellen. Darüber hinaus ist es benutzerfreundlich und für die meisten Anwendungen leicht konfigurierbar.