Gebraucht HITACHI S-4800 #9266815 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein analytisches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Das Gerät ist mit einer Reihe von Probenvorbereitungs- und Messfunktionen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, Proben mit erhöhter Präzision und Genauigkeit zu beobachten. HITACHI S 4800 verwendet eine ausgeklügelte elektronenoptische Säule, um die erforderlichen Vergrößerungen und Auflösungen zu erreichen. Es besteht aus einer Elektronenkanone, primären und sekundären Säulenelektroden, Probenmanipulationsstufe und Detektoren. Mit der Elektronenkanone wird der Elektronenstrahl erzeugt, der auf die Probe gerichtet und auf den Detektor projiziert wird. Die Primärsäulenelektroden fokussieren den erzeugten Elektronenstrahl und die Sekundärelektroden positionieren diese an bestimmten Stellen. Die Probenmanipulationsstufe ist in der Lage, die Probe zu übersetzen und zu kippen, um sie in mehreren Orientierungen zu betrachten. Die Detektoren erfassen und sammeln die Signale aus dem Elektronenstrahl und wandeln diese in digitale Bildinformationen um. Das SEM nutzt die Feldemissionstechnologie, um hohe Auflösungsleistung bei niedriger Beschleunigungsspannung zu ermöglichen. Es bietet auch die automatisierte Steuerungsfunktion für Anwender zur Feinabstimmung der Elektronenoptik für eine verbesserte Bildgebung und Analyse. Das System verfügt über eine Reihe von SEM-Detektoren, wie Sekundärelektronendetektoren, Rückstreuelektronendetektoren, Transmissionselektronendetektoren und energiedispersive Spektroskopiedetektoren, mit denen Benutzer die elementare Zusammensetzung einer Probe analysieren können. S-4800 ist mit einer Reihe von Mess- und Bildanalyse-Software-Anwendungen ausgestattet, einschließlich WDS und EDS, die umfassende Bildverarbeitungs-, Mess- und Analysefunktionen bieten. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer fortschrittlichen Automatisierungsmaschine ausgestattet, mit der Anwender vordefinierte Laborverfahren aufzeichnen und mehrere Prozesse wie Beschichtung und Beobachtung in einem einzigen Scan durchführen können. Insgesamt ist S 4800 ein ideales Werkzeug für fortgeschrittene Bildgebung, Analyse, Probenvorbereitung und Messung für eine breite Palette von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Es hat ein großes Gesichtsfeld, eine hohe Auflösung und eine große Schärfentiefe, was es ideal für die Untersuchung von Materialien wie Metall, Halbleitern und biologischen Proben macht.