Gebraucht HITACHI S-4800 #9271037 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9271037
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With EDS
Magnification: 30x, 800,000x
Maximum sample size: 150 mm
Accelerating voltage:
1.0 nm (15 kV)
2.0 nm (1 kV)
Electron gun:
Cold-cathode field emissions electron source
Accelerating voltage: 0.5-30 kV (Variable steps 0.1 kV)
Sample change: Air lock
Detectors:
Upper secondary electron detector
Lower secondary electron detector
EDS Detector
Dry vacuum system
With Turbo Molecular Pump (TMP)
3-Axes motorized stage
With GUI
Operating system: Windows XP.
HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes analytisches Instrument zur Bildgebung und Analyse biologischer Proben, Nanostrukturen und anderer Proben. Dieses Tool bietet eine hohe Auflösung von 3 nm, so dass der Bediener kleine Zellen, Proteine und andere Strukturen klar visualisieren kann. Mit seinem energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor und einer hochempfindlichen Rückdetektorausrüstung kann HITACHI S 4800 SEM tiefer in die Probenschichten eindringen, um selbst sehr kleine Strukturen übersichtlich abzubilden und zu analysieren. Das System ist mit einer Feldpistole ausgestattet. Diese Pistole bietet eine höhere Elektronenemission bei höherer Stromintensität, wodurch höhere Bildqualität, bessere Auflösung und Kontrast sowie schnellere Bildgebungsgeschwindigkeiten erzielt werden können. Der von der Geschützeinheit erzeugte Elektronenstrahl hoher Intensität ist auf eine Punktgröße von 0,5 bis 20,0 μ m einstellbar. S-4800 SEM verfügt über eine große Kammer, die Proben aufnehmen kann, die größer sind als die in einer Standardkammer, wie biologische und industrielle Proben. Mit seiner Auswahl an Detektoren kann diese Maschine verwendet werden, um sowohl magnetische als auch nichtmagnetische Materialien zu untersuchen. Das Gerät wird über eine intuitive interaktive Benutzeroberfläche gesteuert, wodurch die Bedienung der Geräte einfach ist. Diese benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht eine effiziente Bilderfassung aus mehreren Richtungen in einer einzigen Probe. Das Werkzeug kommt auch mit automatisierten Funktionen für die schnelle Suche nach feinen Punkten, wie Messung Dicke und Oberflächenrauhigkeit. Für dreidimensionale Bildgebung verfügt S 4800 über einen Conoidal Scanning Mode, der schnelle Scanraten ermöglicht und auch unerwünschte Hintergrundgeräusche herausfiltern kann. Diese Software enthält auch automatische Ausrichtungs- und Nähfunktionen, um schnell Panoramabilder zu erstellen. HITACHI S-4800 kommt mit integrierten Auto Focus und Autocontrast Funktionen, so dass das Asset benutzerfreundlicher und effizienter. Der mitgelieferte HDTV (High Definition Television) Videoanschluss sorgt dafür, dass Sie Ihre Bilder in hoher Auflösung anzeigen können. HITACHI S 4800 beinhaltet auch eine Schnittstelle zu schnellem Ethernet und optionaler Videoausgabeunterstützung, die den Praktikern die Möglichkeit gibt, Daten auf andere Computer zu übertragen, was enorm viel Zeit sparen kann. Insgesamt ist S-4800 SEM ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop mit leistungsstarken Funktionen, um selbst feinste Details in biologischen, industriellen und nanostrukturalen Proben zu untersuchen. Seine hohe Auflösung und EDS-Detektor bieten Bildqualität und Analyse Klarheit, und seine vielseitige Kammer, Benutzeroberfläche und EDX-Kontrollen machen das Bedienen und Analysieren von Proben einfacher, schneller und genauer.
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