Gebraucht HITACHI S-4800 #9293885 zu verkaufen

HITACHI S-4800
ID: 9293885
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" 2004 vintage.
HITACHI S-4800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochvergrößerte Oberflächenbilder sowohl in der Forschung als auch in der Industrie konzipiert ist. Es ist eine hochwertige, einspaltige Ausrüstung, die für hochwertige Bilder mit einer Vielzahl von Auflösungsanforderungen entwickelt wurde. HITACHI S 4800 verwendet einen monochromatischen Elektronenstrahl, um hochauflösende topographische Bilder und 3D-Oberflächenreplikate zu erzeugen. In das System integriert, erfasst, zeigt und speichert ein digitaler Abbildungsprozessor die Bilder mit einem optischen Sensor, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Die maximal erreichbare Vergrößerung beträgt 1,0 Nanometer und bietet eine beispiellose Auflösung. S-4800 ist mit einer beschleunigten Spannung von 5kV und einem Strahlstrombereich von 0,3 bis 8nA ausgestattet. Dies ermöglicht die Analyse von Proben bis zu 40cm Durchmesser und bis zu 8mm Tiefe. Das Gerät kann auch an einem Halter befestigt und manuell von Raumtemperatur bis zu einer maximalen Temperatur von 100 Grad Celsius eingestellt werden. S 4800 unterstützt auch eine breite Palette von bildgebenden Modi und analytischen Techniken. Das integrierte energiedispersive Röntgenspektrometer verfügt über einen funkelfreien Betrieb bei variabler Beschleunigungsspannung. Es werden eine Reihe spektroskopischer Techniken ermöglicht, die eine Identifizierung der Materialzusammensetzung ermöglichen. Erweiterte Abbildungsmodi, wie variabler Druckmodus und Neigungsmodus, ermöglichen eine Bildgebung ohne Öffnung. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten verfügt HITACHI S-4800 auch über analytische Fähigkeiten, wie die fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopie, die zur Vorbereitung und Analyse von Proben verwendet werden kann. Die Maschine enthält eine Ionenquelle und HF-Werkzeug, um den Prozess zu unterstützen. HITACHI S 4800 verfügt über eine robuste Konstruktion mit einer Reihe von automatisierten Funktionen, einschließlich Fokus und Geräuschkorrektur, um wiederholbare Ergebnisse bei minimaler Benutzereingabe zu gewährleisten. Darüber hinaus kann die Anlage für den Betrieb in einer Vielzahl von Konfigurationen eingerichtet werden, einschließlich Fernbedienung und Vollautomatisierung, um den unterschiedlichen Anforderungen von Labors und Produktionsstätten gerecht zu werden. Zusammenfassend ist S-4800 ein SEM-Modell mit hoher Spezifikation, das für eine Reihe von Anforderungen an Oberflächenbildgebung und -analyse optimiert ist. Mit seinem breiten Spektrum an Vergrößerungen und erweiterten bildgebenden Funktionen ist S 4800 ein ideales Werkzeug für die anspruchsvollsten Anwendungen.
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