Gebraucht HITACHI S-4800 #9351385 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich für eine Vielzahl von Anwendungen wie Bildgebung, Elementaranalyse und Oberflächenanalyse eignet. HITACHI S 4800 verfügt über einen einzigartigen variablen Druckmodus, der es ermöglicht, eine Vielzahl von Probentypen, -größen und -formen zu beobachten, ohne auf Leistung zu verzichten. Ausgestattet mit einer großen Kammer und hohen Vergrößerungsmöglichkeiten, ist S-4800 in der Lage, sowohl große als auch kleine Merkmale komplexer Proben zu überprüfen und gleichzeitig ein hochauflösendes Bild zu liefern. S 4800 verfügt über eine Feldemissionskanone, die die räumliche Auflösung des Mikroskops erhöht. Darüber hinaus ermöglicht die Pistole eine geringe Metallverunreinigung der beobachteten Probe, was zu höheren Kontrastbildern der Probe führt. Das SEM ist mit einer Standardkamera ausgestattet, mit der Benutzer Bilder der Probe schnell und einfach aufnehmen und für eine spätere Analyse speichern können. Die Bilder von HITACHI S-4800 können auch für automatisierte Messungen und Berechnungen verwendet werden und sind damit ein ideales Instrument für die automatisierte Datenerfassung und -analyse. Für die elementare Abbildung und Analyse verfügt HITACHI S 4800 über eine energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Fähigkeit. Mit dem EDS können Anwender eine schnelle und zerstörungsfreie Elementaranalyse der Probe durchführen. Durch die schnelle Elementaranalyse ist S-4800 in der Lage, verschiedene Elemente in der Probe schnell und genau zu identifizieren und zu quantifizieren. S 4800 verfügt auch über einen TEM-Modus (Thermal Emission System), der die Kontaktpotentialdifferenz (CPD) einer Probe messen kann, die für das Verständnis der Halbleitermaterialeigenschaften wesentlich ist. HITACHI S-4800 bietet auch einzigartige Möglichkeiten zur Oberflächeninspektion von 3D-Proben. Sein niedriger Vergrößerungsmodus ermöglicht es Benutzern, schnell alle Oberflächenfehler an einer Probe zu identifizieren, während eine hohe Vergrößerung eine detaillierte Oberflächenzuordnung ermöglicht. Die Oberflächenbildgebung wird durch die Verwendung eines EBSD-Systems (Electron Backscatter Diffraction) verbessert, das die Oberflächenorientierung einer Probe durch Erfassen der Orientierung von Kristallgittern ermöglicht. Die EBSD ist auch in der Lage, Dehnung, Kristallinität und Textur einer Probe zu messen. HITACHI S 4800 hat eine breite Palette von Funktionen, die es zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen macht. Seine großen Kammer-, Hochauflösungs-, EDS-, TEM- und EBSD-Fähigkeiten eignen sich S-4800 gut für bildgebende, elementare Analyse- und Oberflächenanalyseanwendungen sowie für automatisierte Datenerfassung und -analyse. S 4800 bietet ein leistungsstarkes und intuitives Rasterelektronenmikroskop, das eine verbesserte Leistung für Anwender aller SEM-Stufen bietet.