Gebraucht HITACHI S-4800 #9384763 zu verkaufen

Das HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop (SEM) bietet die höchsten Auflösungsfähigkeiten im heutigen Rasterelektronenmikroskopiefeld. Diese außergewöhnliche Fähigkeit ermöglicht es Benutzern, durch anspruchsvolle Bildgebung und Analyse eine konkurrenzlose Bildqualität zu erzielen. Mit einer Auflösung von 1,3 nm und Arbeitsabständen von 6 mm bis 139 mm bietet HITACHI S 4800 maximale Nutzleistung. Die Merkmale des SEM ermöglichen Klarheit und ermöglichen detaillierte Visualisierungen mikroskopischer Proben. Die höchste Auflösung wird durch einen Sekundärelektronendetektor und einen neuen BSE (HighBright) Detektor sowie einen energiedispersiven Röntgendetektor erreicht. Diese drei Arbeiten im Tandem, um die beste Auflösung zur Verfügung zu erreichen. Mit dieser hochmodernen Instrumentierung kann das SEM größere und detailliertere Datensätze von in den Proben vorhandenen Partikeln sammeln. Ein In-Linsen-Elektronendetektor mit einer speziellen Mini-Linse gibt Bildern einen höheren Kontrast als jedem anderen SEM. Die benutzerfreundliche Bedienung von S-4800 bietet sowohl neuen als auch erfahrenen Anwendern einen großen Vorteil. Es bietet eine Robustheit umfasst mehrere funktionale Scan-Modi, computergesteuerte motorisierte Bühne, elektronisch modulierte Strahl-zu-Probe-Abstandsregelung, sowie eine flüssige Stickstoff gekühlte EDS (Energie-dispersive Röntgenspektrometer) Option. Darüber hinaus verfügt S 4800 über einen Ladungsdetektor, um die Wechselwirkung von Elektronenproben zu minimieren. Es enthält auch eine Analyse-Software-Suite (SourceEazy), die eine intuitive GUI bietet, die es Anwendern ermöglicht, leistungsfähige Analyse ihrer Beispieldaten durchzuführen - und gleichzeitig minimalen Aufwand in den Betrieb zu investieren. Entwickelt mit einem intuitiven Touchpanel bietet HITACHI S-4800 einen beispiellosen Benutzerfreundlichkeit. Nicht zuletzt bietet HITACHI S 4800 verbesserte Bildgebungsfunktionen in beispielloser Auflösung. Seine Rasterelektronenmikroskopfunktion Bilder mit 1,3 nm Auflösung, ermöglicht die Abbildung von Partikeln und kleinen Proben. S-4800 verbessert auch die räumliche und Oberflächenverteilung der Probe und ermöglicht einfacheres Scannen und Bildgebung mit höherer Auflösung. Insgesamt ist das S 4800 Rasterelektronenmikroskop das fortschrittlichste Mikroskop seiner Klasse, das eine unschlagbare Auflösung und benutzerfreundliche Bedienung bietet. Dieses SEM ist die perfekte Wahl für fortgeschrittene Anwendungen, die Forschern und Wissenschaftlern einen detaillierten Einblick in ihre Proben und tiefergehende Analysefunktionen bieten. HITACHI S-4800 ist eine unschlagbare Kombination aus erstklassigen Bildgebungs- und Analysefunktionen.