Gebraucht HITACHI S-4800 #9387882 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein zerstörungsfreies, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit niedrigem Vakuummodus im Druckbereich von 10-2 - 10-7 mbar. Mit diesem SEM ist eine Abbildung von nichtleitenden und leitenden Proben bei Auflösungen von 20 nm möglich, wodurch strukturelle und morphologische Merkmale von Proben detailliert analysiert werden können. HITACHI S 4800 verfügt über eine genaue und zuverlässige motorisierte Probenstufe mit einer Abtastgröße von 200 mm in der X-Achse, 100 mm in der Y-Achse und 5 mm in der Z-Achse. Dies ermöglicht es dem Bediener, einen großen Bereich mit einem einzigen Scanvorgang abzudecken; Dies in Kombination mit der schnellen Scangeschwindigkeit und den integrierten Bildverarbeitungsfunktionen des SEM erhöht die Effizienz und reduziert die Scanzeit. Mit großer Schärfentiefe ist S-4800 auch in der Lage, hochvergrößerte Bilder abzubilden. Auf S 4800 stehen verschiedene Abbildungsmodi zur Verfügung, darunter Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE), Sendeelektron (TE), kombiniertes SE und BSE, kombiniertes SE und TE und Variable Pressure Imaging (VPI). Jeder Modus hat seine eigenen Eigenschaften, so dass er auf verschiedene Arten von Probenmaterialien anwendbar ist. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-4800 über eine automatisierte Bildverarbeitungsanlage, die eine schnelle Datenanalyse sowie verschiedene Add-On-Funktionen ermöglicht, um eine noch weitere Probenanalyse zu ermöglichen. Dazu gehören ein automatisiertes Partikelgrößen- und Formanalysesystem, eine dreidimensionale Probenanalyseeinheit, eine automatisierte Kartierungsmaschine und ein energiedispersives Röntgenanalysewerkzeug. HITACHI S 4800 verfügt über eine hochwertige digitale Bildverarbeitung, die einen besseren Kontrast und Klarheit bietet als herkömmliche filmbasierte Systeme. Eine Digitalkamera kann für schnelle, genaue Fokussierung und eine Reihe von Bildverbesserungen und Manipulationen, wie Bildmosaik, Bildnähte und Bildverarbeitung verwendet werden. S-4800 können auch in eine Mehrbenutzer-Arbeitsumgebung integriert werden, und mit einer Reihe von Datenausgabeformaten können die Ergebnisse auf vielfältige Weise gestaltet werden, was einen einfachen Vergleich und eine Analyse zwischen verschiedenen Proben ermöglicht. Insgesamt ist S 4800 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine präzise, hochauflösende Abbildung einer Reihe von Proben mit einer Vielzahl von bildgebenden Modi und Zusatzfunktionen ermöglicht und eine weitere detaillierte Analyse ermöglicht. Die Maschine eignet sich ideal für Qualitätskontrollen und Forschungsanwendungen und ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Werkzeug für die Analyse verschiedener Materialien.